[发明专利]具备动态检测系统的专用集成电路

权利要求书

1.一种检测器，包括：

探测装置，用于检测接近度条件及生成相关的电力参数；和

参数测量装置，耦合至所述探测装置，且

其中，所述参数测量装置包括：

参数检测器；

模拟数字转换器ADC，耦合至所述参数检测器并以一个多元化操作量程运作来生成参数的数字表示；和

量程选择器，在所述ADC与所述参数检测器之间被耦合，并使所述参数检测器生成电力参数的输出信号强度表示，其中，所述输出信号强度在所述ADC的一个多元化操作量程之内。

2.如权利要求1所述的检测器，其中，所述ADC包括逐次逼近型模数转换器SARADC。

3.如权利要求2所述的检测器，进一步包括信号处理单元，耦合至所述SARADC，其中，所述信号处理单元生成检测器输出信号。

4.如权利要求3所述的检测器，其中，所述信号处理单元包括：倍增器、滤波器、微分器、和比较器。

5.如权利要求4所述的检测器，其中，所述信号处理单元进一步包括：分频器，在所述微分器与所述比较器之间被耦合。

6.如权利要求1所述的检测器，其中，所述探测装置包括光电晶体管，且所述电力参数包括所述光电晶体管的射极电流强度。

7.如权利要求6所述的检测器，其中，所述参数检测器包括电流镜。

8.如权利要求7所述的检测器，其中，所述电流镜生成所述光电晶体管电流强度大小的输出信号表示。

9.如权利要求8所述的检测器，其中，所述电流镜包括：输入晶体管，耦合至所述光电晶体管；抗混叠滤波器，耦合至所述输入晶体管；和输出晶体管，在所述抗混叠滤波器与所述ADC之间被耦合，且所述电流镜进一步包括：开关，耦合至所述输入晶体管的主要电流路径电极以及所述输出晶体管的主要电流路径电极；和量程选择器，在所述ADC的输出与所述开关之间被耦合，用来控制所述开关。

10.一种用来响应传感条件的集成电路，所述集成电路包括：

电机控制器；

多个输入终端，耦合至电源；

多个输出终端，用来连接电机；

动态检测器，用来接收光敏装置所生成的信号；和

多个工具，以一个多元化操作模式来操作电机，响应所述动态检测器所检测的动态。

11.如权利要求10所述的集成电路，进一步包括：多个工具，在一个操作模式的运作期间照亮LED。

12.如权利要求11所述的集成电路，其中，所述光敏装置生成电力参数，且所述动态检测器包括：参数检测器；模拟数字转换器ADC，耦合至所述参数检测器并以一个多元化操作量程运作来生成参数的数字表示；和量程选择器，在所述ADC与所述参数检测器之间被耦合，并使所述参数检测器生成参数的输出信号强度表示，其中，所述输出信号强度在所述ADC的一个多元化操作量程之内。

13.如权利要求12所述的集成电路，其中，所述ADC包括逐次逼近型模数转换器SARADC，并进一步包括：信号处理单元，耦合至所述SARADC，其中，所述信号处理单元生成检测器输出信号。

14.如权利要求13所述的集成电路，其中，所述信号处理单元包括：倍增器；滤波器，耦合至所述倍增器；微分器，耦合至所述过滤器；分频器，耦合至所述微分器；和比较器。

15.如权利要求12所述的集成电路，包括用来与所述光敏装置结合的光电晶体管，且其中，所述电力参数包括所述光电晶体管的射极电流强度。