[发明专利]改进的样品测试卡

权利要求书

1.一种样品测试卡，包括：

(a)卡主体，其界定第一表面和与所述第一表面相对的第二表面，流体引入口和多个样品池被布置在所述第一表面和所述第二表面之间，所述第一表面和所述第二表面由覆盖所述多个样品池的密封剂带密封；

(b)把所述流体引入口连接于所述样品池的流体通道网络，所述流体通道网络包括至少一个分配通道、使所述至少一个分配通道可操作地连接于所述样品池的多个填充通道；并且

(c)其中所述测试卡还包括一个或多个流体溢流储器，所述溢流储器通过流体溢流通道被可操作地连接于所述分配通道。

2.根据权利要求1所述的测试卡，其中所述测试卡包括被排列为十二列、每列八个样品池的96个样品池。

3.根据权利要求1所述的测试卡，其中所述测试卡包括被排列为十四列、每列八个样品池的112个样品池。

4.根据权利要求1所述的测试卡，还包括与所述样品池流体连通的气泡捕获器，所述捕获器被定位为至少部分地在所述池之上。

5.根据权利要求1所述的测试卡，其中所述一个或多个溢流储器还包括吸附剂，所述吸附剂用于吸附来自所述流体通道网络的任何过量的液体。

6.根据权利要求1所述的测试卡，其中所述吸附剂选自由吸附树脂、硅胶、水凝胶、分子筛、沸石和其他熟知的吸附剂材料组成的组。

7.根据权利要求1所述的测试卡，其中所述流体通道网络还包括第二分配通道，所述第二分配通道被布置在所述测试卡的所述第一表面上并且被可操作地连接于所述样品池。

8.根据权利要求1所述的测试卡，还包括用于对准所述卡以用于光测读数的传感器止动孔。

9.根据权利要求8所述的测试卡，其中所述传感器止动孔被对准为在所述样品池的每一列之前，离每一列约0.25mm至约2mm。

10.一种改进的样品测试卡，所述样品测试卡宽约90mm、高约56mm并且厚约4mm，具有带第一表面和与所述第一表面相对的第二表面的大体平坦的卡主体、被形成在所述卡主体中的引入口、被形成在所述卡主体中的多个样品池以及流体流分配通道，所述流体流分配通道被可操作地连接于所述引入口并且横穿所述第一表面的一部分以使流体样品从所述引入口分配至所述样品池，由此把流体测试样品供应至所述样品池，其中所述改进包括测试卡具有总共约80至约140个样品池。

11.根据权利要求10所述的改进的测试卡，其中所述测试卡还包括把所述流体流分配通道可操作地连接于所述样品池的多个填充通道。

12.根据权利要求10所述的改进的测试卡，其中所述测试卡包括被排列为十二列、每列八个样品池的96个样品池。

13.根据权利要求10所述的改进的测试卡，其中所述测试卡包括被排列为十四列、每列八个样品池的112个样品池。

14.提供一种样品测试卡，包括：

(a)卡主体，其界定第一表面和与所述第一表面相对的第二表面，流体引入口和多个样品池被布置在所述第一表面和所述第二表面之间，所述第一表面和所述第二表面由覆盖所述多个样品池的密封剂带密封；以及

(b)把所述流体引入口连接于所述样品池的流体通道网络，所述流体通道网络包括被布置在所述第一表面上的单个分配通道，所述单个分配通道提供从所述流体引入口至每一个所述样品池的流体流路，并且其中所述分配通道还包括多个流动储器，每一个所述流动储器具有一个或多个填充通道，其中所述填充通道使所述流动储器可操作地连接于所述样品池。

15.根据权利要求14所述的测试卡，其中所述流动储器是菱形的储器，并且所述储器可操作地捕获空气以减少和/或防止池对池的污染。

16.根据权利要求15所述的测试卡，其中所述测试卡还包括一个或多个溢流储器，并且其中所述溢流储器通过溢流通道在所述样品池的下游被可操作地连接于所述分配通道。

17.根据权利要求14所述的测试卡，其中所述测试卡包括总共约80至约140个样品池。

18.根据权利要求14所述的测试卡，其中所述测试卡包括被排列为十二列、每列八个样品池的96个样品池。