[发明专利]充电构件

说明书

技术领域

本发明涉及充电构件。

背景技术

在电子照相设备中，已知将电压施加到与鼓状感光构件表面接触配置的充电构件以在它们之间的辊隙附近引起微小放电(micro-discharge)的发生，从而将感光构件表面静电充电的接触充电系统。

作为用于此类接触充电系统的充电构件，如专利文献1中所公开的，通常通过在表面层中引入颗粒使其表面粗糙化以例如减少显影剂粘附到表面以及使放电稳定化。

同时，专利文献2公开一种充电构件，其在导电性弹性层上设置有含有具有氧化烯基的聚硅氧烷的具有高电阻的薄表面层，由此改善其带电能力。

引文列表

专利文献

专利文献1：日本专利申请特开2005-345801

专利文献2：日本专利申请特开2009-086263

发明内容

发明要解决的问题

如上述专利文献1公开的，在表面层中引入细颗粒由此使表面粗糙化的充电构件中，由于表面层与感光构件反复接触而使表面层逐渐地出现磨耗。随之，细颗粒持续地从表面层脱落直至在有些情况下充电构件的表面层的形状改变。结果，充电构件的带电性能会随时间而变化。

因此，本发明的目的是提供即使由于长时间使用带电性能也不易变化的充电构件。

本发明另外的目的是提供可稳定地形成高品位电子照相图像的电子照相设备。

用于解决问题的方案

根据本发明的一方面，提供包括导电性支承体、弹性层和表面层的充电构件，其中：所述弹性层以使球状颗粒至少部分地露出所述弹性层表面的方式包含球状颗粒，由此使所述弹性层的表面粗糙化；

其中，

所述球状颗粒为选自由球状二氧化硅颗粒、球状氧化铝颗粒和球状氧化锆颗粒组成的组的至少一种；所述弹性层的表面以使所述弹性层的表面形状反映在所述充电构件的表面形状上的方式覆盖有所述表面层；和所述表面层包含具有由下式(1)表示的构成单元的高分子化合物。

式(1)

式(1)中，R₁和R₂各自独立地表示由下式(2)至(5)表示的任意结构。

式(2)至(5)中，R₃至R₇、R₁₀至R₁₄、R₁₉、R₂₀、R₂₄和R₂₅各自独立地表示氢原子、具有1至4个碳原子的烷基、羟基、羧基或氨基；R₈、R₉、R₁₅至R₁₈、R₂₂、R₂₃和R₂₇至R₃₀各自独立地表示氢原子或具有1至4个碳原子的烷基；n、m、l、q、s和t各自独立地表示1至8的整数，p和r各自独立地表示4至12的整数，x和y各自独立地表示0或1；和星号*表示与式(1)中的硅原子键合的位置，和双星号**表示与式(1)中的氧原子键合的位置。

根据本发明另外的方面，提供包括电子照相感光构件和与所述电子照相感光构件接触配置的充电构件的电子照相设备，其中所述充电构件为上述充电构件。

发明的效果

根据本发明，可获得带电性能不容易变化的充电构件。根据本发明，还可获得能够稳定地形成高品位电子照相图像的电子照相设备。

附图说明

图1为示出本发明充电构件的表面状态的图解图。

图2为示出本发明充电构件的实例的截面图。

图3为示出应用本发明的充电构件的电子照相设备的结构实例的示意图。

具体实施方式

本发明的充电构件具有导电性基体、弹性层和表面层。

<导电性基体>

基体为具有能够支承在其上设置的充电构件和表面层的强度并且具有导电性的基体。作为基体用材料，可使用的是，例如，金属例如铁、铜、不锈钢、铝和镍，以及任意这些的合金。基体还可在其表面上进行表面处理例如为了提供耐擦拭性目的的镀覆(plating)，只要不损害导电性即可。

<弹性层>