[发明专利]检验夹具及触头

说明书

技术领域

本发明涉及一种与安装在印刷电路板等电子部件的检验端子相接触的触头及检验夹具。

背景技术

对印刷电路板的检验用图1说明一般的结构。检验夹具1配置于被检验印刷电路板和检验装置之间，确保导电并检验电阻值等电气特性。触头保持体20和电极部40通过连接器46连接于检验装置，其中，触头保持体20用于保持与被检验印刷电路板的检验端子电接触的多个触头10，电极部40用于支撑该触头保持体20并具有与触头10电接触的电极。以可分离该触头保持体20和电极部40的方式形成的结构对制作和保养很有效。

对检验夹具1的触头10等的具体结构，根据专利文献1和图10来说明。触头10由触针（contact pin）11和螺旋弹簧14构成，并与导线44的端部的电极41电接触。触针11被保持在第一导向板21和第二导向板22，螺旋弹簧14被保持在螺旋弹簧保持板23，电极41通过粘合剂411a被粘结在电极板42的电极孔411。为了避免由电极41和螺旋弹簧14的位置偏移而导致的接触不良，将空隙51设置于电极41的外周，从而确保电极41和螺旋弹簧14的电接触。

但是，该电极41是在单芯铜线镀膜的漆包线，并且从外围突出，因此会减弱物理强度，就制作和保养而言，如果受到损伤很难修复，因此不容易处理。

在专利文献2中，虽与图10的结构稍微不同，但由于在漆包线外围的电极孔411填充并粘结粘合剂411a，所以会产生位置偏移，并且因为不能忽略电极孔411相对螺旋弹簧14的位置偏移，所以在螺旋弹簧14和电极41之间配置顶端呈圆锥状的导电性抵接构件（文献2的附图标记9），从而使螺旋弹簧14的中心抵接于电极41。但是，由于增加了一个部件，所以会相应地使制作成本增加，也会使组装、保养的劳力增加。

专利文献3中，在圆筒构件（文献3的附图标记413）的电极将螺旋弹簧（文献3的附图标记22）以尖细状进行末端处理，使其抵接在圆筒构件内侧端面并牢固地卡合，从而进行电接触。但是，因需要圆筒构件的电极，导致成本变高。

在专利文献4的（第三、第五实施例）、（图3、5）中的导电触头（文献4的附图标记15、20）以如下方式构成：焊有下侧针状体（文献4的附图标记13、19）和螺旋弹簧（文献4的附图标记16），并使螺旋弹簧的一端部（文献4的附图标记16a）从绝缘体的开口部（文献4的附图标记7a）突出。但是，就一端部（文献4的附图标记16a）末端的加工而言，若线圈中心直径变小则不容易进行。

作为将触头的部件数量最少设为一个的现有技术，在专利文献5中，探头（文献5的附图标记1）以螺旋状形成，并将一端部向中心轴延伸设置，将末端加工成圆锥状并将其作为顶端，另一端部也向中心轴的另一端侧延伸设置且加工成圆锥状并与电极电接触。但是，就螺旋弹簧两侧的末端处理而言，因加工复杂所以制作并不容易。

在专利文献6中，在螺旋弹簧的两侧设置闭式绕法绕成的锥状尖细部并将末端以小径卷状形成，两端从螺旋弹簧保持体突出并被保持，从而当压接在电极和检验端子时就会进行电接触。但是，由于螺旋弹簧的特性而小径卷状的最小外径具有线径四倍的极限，因此成为对线圈中心直径小的微小螺旋弹簧的限制。检验端子的表面面积大或具有突起的时候是有效的，但与面积小或在外围具有保护膜且凹陷的检验端子的接触就变得困难。

还有如下例子：专利文献7（图2、3、4、6、7）中，在螺旋弹簧的触针（contact pin）（文献7的附图标记1、51）的中心设置末端的抵接部（文献7的附图标记7、11、57）而用于老化测试。但是，进行压接时，存在被检验物的检验端子产生撞痕、瑕疵的可能性，因此使用范围受到限制。

在专利文献8的图11中示出，作为改善触头电气特性的直流电阻和电感（交流电阻）的例子。用触针（触头）140将插棒141和螺旋弹簧单元145在同轴上重合而配置并保持于IC插座上，所述触针用于窄间距IC封装用IC插座。

端子部142的顶端与被检验IC封装（IC package）的焊球等的检验端子相接触，螺旋弹簧单元145的闭式细卷部148的末端与接触于检验装置的电极相接触。心轴部141的长宽部143用于卡止IC插座（IC socket）和螺旋弹簧单元145。心轴部144相对闭式卷绕部147的内周滑动并伸缩，改善进行检验时的触针（触头）140的内部电阻。但是，与专利文献6一样，需要确保相当于细卷部分的电极的外径。

作为相同的螺旋弹簧的末端，在专利文献9中（文献9的图7）存在缩径细卷部（文献9的附图标记5c）。但是，不便之处与专利文献6、8相同。