[发明专利]导电性高分子、导电性高分子的质量管理方法以及导电性高分子的提纯方法

说明书

技术领域

本发明涉及导电性高分子、导电性高分子的质量管理方法以及导电性高分子的提纯方法。

本申请基于2010年3月24日在日本申请的日本专利特愿2010－068159号、2010年3月31日在日本申请的日本专利特愿2010－080734号、2010年5月20日在日本申请的日本专利特愿2010－116483号、2010年11月11日在日本申请的日本专利特愿2010－252717号、2011年2月16日在日本申请的日本专利特愿2011－031388号主张优先权，在此引用这些内容。

背景技术

作为导电性高分子，大家熟知的有掺杂的聚苯胺。作为聚苯胺的制造法，提出的有使被磺酸基或羧基等酸性基团取代的苯胺（酸性基团取代的苯胺）在包含碱性化合物的溶液中聚合的方法（例如参考专利文献3、4）。

以前，酸性基团取代的苯胺较难自聚，高分子量化困难，但通过在包含碱性化合物的溶液中聚合的方法，可制造高分子量的聚合物。用该方法得到的聚苯胺为高分子量，在酸性或碱性任一水溶液中都显示出优异的溶解性。

可是，使酸性基团取代的苯胺在含有碱性化合物的溶液中聚合的方法，不能完全抑制副反应的并发或被认为是基于该副反应的并发的低聚物成分的产生等，这是杂质混入导电性高分子中的要因及会妨碍导电性提高。

作为解决这些课题点的方法，例如专利文献1公开了这样的方法，对得到的导电性聚合物用含有质子酸的溶液进行酸处理，或者酸处理后，用甲醇或丙酮等的有机溶剂进行洗涤，来提纯杂质。

又，专利文献2公开了这样的方法，使酸性基团取代的苯胺在含有碱性化合物的溶液中聚合时，通过在作为聚合催化剂的氧化剂溶液中滴加含有酸性基团取代的苯胺和碱性化合物的溶液，来抑制杂质。

背景技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开平10－110030号公报

专利文献2：日本专利特开2000－219739号公报

专利文献3：日本专利特开平7－196791号公报

专利文献4：日本专利特开平7－324132号公报

发明内容

发明要解決的课题

然而，将专利文献1、2记载的方法所得到的导电性高分子涂覆于基材等而形成涂膜时，随着时间流逝涂膜上产生异物，存在导电性降低的问题。

又，专利文献1记载的方法繁杂，导电性高分子的提纯也不充分。因此，特别是硫酸根、低聚物、未反应的单体等作为杂质残留，存在导电性或溶解性降低的问题。

本发明是鉴于上述情况而作成的，目的在于提供制作涂膜时，即使时间流逝也不易产生异物的导电性高分子、导电性高分子的质量管理方法以及用于得到具有高导电性和溶解性的导电性高分子的提纯方法。

解決课题的手段

本发明如下。

[1]一种导电性高分子，其具有下述通式（1）表示的重复单元，且采用含有下述工序（I）~（VI）的评价方法算出的面积比Y/X在0.60以下，

（I）工序：制备pH在10以上的洗脱液，使导电性高分子溶解于该洗脱液中，使其固体成分浓度为0.1质量%，来制备试验溶液；

（II）工序：对于试验溶液，使用具备凝胶渗透色谱仪的高分子材料评价装置测定其分子量分布，得到色谱图；

（III）工序：对于由工序（II）得到的色谱图，将保留时间换算为聚苯乙烯磺酸钠换算的分子量M；

（IV）工序：求出聚苯乙烯磺酸钠换算的分子量M中，分子量M为5000Da以上的区域的面积X；

（V）工序：求出聚苯乙烯磺酸钠换算的分子量M中，分子量M小于5000Da的区域的面积Y；

（VI）工序：求出面积X与面积Y的面积比Y/X，

[化1]

式（1）中，R¹~R⁴各自独立地为-H、碳原子数1~24的直链或者含支链的烷基、碳原子数1~24的直链或者含支链的烷氧基、酸性基团、羟基、硝基、-F、-Cl、-Br或-I，R¹~R⁴中的至少一个为酸性基团或其盐。

[2]一种导电性高分子的质量管理方法，所述导电性高分子具有下述通式（1）表示的重复单元，其中，

选择采用含有下述工序（I）~（VI）的评价方法算出的面积比Y/X在0.60以下的导电性高分子，