[发明专利]包括图案化光学被分析物传感器和光学读出器的过滤器系统有效

专利信息
申请号: 201180014735.4 申请日: 2011-03-29
公开(公告)号: CN102803936A 公开(公告)日: 2012-11-28
发明(设计)人: 加里·E·德怀尔;托马斯·W·霍姆奎斯特-布朗;基兰·S·卡努库尔蒂;尼尔·A·拉科 申请(专利权)人: 3M创新有限公司
主分类号: G01N21/77 分类号: G01N21/77;G01N21/27;G01N21/88;A62B9/00;G01N21/31;A62B18/08;G01N21/55
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 顾红霞;彭会
地址: 美国明*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 包括 图案 光学 分析 传感器 读出 过滤器 系统
【权利要求书】:

1.一种过滤器系统,包括:

壳体;

过滤介质,所述过滤介质设置在所述壳体内;

光学被分析物传感器,其特征在于,具有对所关注的被分析物做出第一响应的第一区域以及对所关注的被分析物做出不同的第二响应的第二区域,所述光学被分析物传感器包括检测介质并且设置在所述壳体内,以使所述检测介质与所述过滤介质流体连通;以及

光学读出器,所述光学读出器包括具有至少一个光源和至少一个检测器的第一组件,以及具有至少一个光源和至少一个检测器的第二组件;

其中所述光学读出器附接到所述壳体,以使由所述第一组件的至少一个光源发出的光的至少一部分从所述光学被分析物传感器的所述第一区域反射,并由所述第一组件的至少一个检测器捕集,而由所述第二组件的至少一个光源发出的光的至少一部分从所述光学被分析物传感器的所述第二区域反射,并由所述第二组件的至少一个检测器捕集。

2.根据权利要求1所述的过滤器系统,其中所述壳体包括可移除壳体部分,并且所述光学读出器附接到所述可移除壳体部分。

3.根据权利要求1所述的过滤器系统,其中所述光学被分析物传感器包括阻断层,并且所述第一区域对应于被所述阻断层掩蔽的区域。

4.根据权利要求1所述的过滤器系统,其中所述光学读出器包括至少一个配准特征结构。

5.根据权利要求1所述的过滤器系统,其中所述第一组件和所述第二组件中的每一者都包括第一光源和第二光源,以及设置在所述第一光源与所述第二光源之间的检测器。

6.根据权利要求5所述的过滤器系统,其中所述第一光源和所述第二光源由不同的光谱分布来表征。

7.根据权利要求1所述的过滤器系统,其中将来自所述第一组件的所述检测器的信号与来自所述第二组件的所述检测器的信号进行比较。

8.一种过滤器系统,包括:

壳体;

过滤介质,所述过滤介质设置在所述壳体内;

光学被分析物传感器,其特征在于,具有对所关注的被分析物做出第一响应的第一区域以及对所述所关注的被分析物做出第二响应的第二区域,所述光学被分析物传感器包括检测介质并且设置在所述壳体内,以使所述检测介质与所述过滤介质流体连通;以及

光学读出器,所述光学读出器包括第一组件以及第二组件,所述第一组件包括具有第一光源和第一检测器的第一模块以及具有第二光源和第二检测器的第二模块,所述第二组件包括光源和检测器;

其中所述光学读出器被设置成使得由所述第一组件的所述第一光源发出的光的至少一部分从所述光学被分析物传感器的所述第一区域的第一区反射,并由所述第一检测器捕集;由所述第一组件的所述第二光源发出的光的至少一部分从所述光学被分析物传感器的所述第一区域的不同的第二区反射,并由所述第二检测器捕集;并且由所述第二组件的至少一个光源发出的光的至少一部分从所述光学被分析物传感器的所述第二区域反射,并由所述第二组件的至少一个检测器捕集。

9.根据权利要求8所述的过滤器系统,其中所述第一组件包括第三模块,所述第三模块包括第三光源和第三检测器,并且其中所述光学读出器被设置成使得由所述第三组件的所述第三光源发出的光的至少一部分从所述光学被分析物传感器的所述第一区域中不同于所述第一区和所述第二区的第三区反射,并由所述第三检测器捕集。

10.根据权利要求8所述的过滤器系统,其中所述壳体包括可移除壳体部分,并且所述光学读出器附接到所述可移除壳体部分。

11.根据权利要求8所述的过滤器系统,其中所述光学读出器可移除地附接到所述壳体。

12.根据权利要求8所述的过滤器系统,其中所述光学读出器包括至少一个配准特征结构。

13.根据权利要求8所述的过滤器系统,其中所述第一模块和所述第二模块中的每一者都包括第一光源和第二光源,以及设置在所述第一光源与所述第二光源之间的检测器。

14.根据权利要求13所述的过滤器系统,其中所述第一光源和所述第二光源由不同的光谱分布来表征。

15.根据权利要求8所述的过滤器系统,其中对于来自所述第一检测器和所述第二检测器的信号,将来自所述第一组件的所述检测器的信号与来自所述第二组件的所述检测器的信号进行比较。

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