[实用新型]高均匀电场型中间封接环有效

专利信息
申请号: 201120253211.8 申请日: 2011-07-18
公开(公告)号: CN202134454U 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 肖红;刘继君 申请(专利权)人: 成都凯赛尔电子有限公司
主分类号: H01H33/664 分类号: H01H33/664
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 四川省成都市*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 均匀 电场 中间 封接环
【权利要求书】:

1.高均匀电场型中间封接环,其特征在于:所述中间封接环本体由环形的底平面、斜边圆弧和竖向的立边组成,所述斜边圆弧与底平面的内端相连,立边与斜边圆弧的上端相连,在底平面的上平面设有瓷壳台阶,在底平面的底部设有屏蔽筒台阶。

2.根据权利要求1所述的高均匀电场型中间封接环,其特征在于:所述斜边圆弧与立边形成15度的a夹角。

3.根据权利要求1所述的高均匀电场型中间封接环,其特征在于:所述底平面的外直径为100-102.5mm,屏蔽筒台阶的直径为95-97.5mm,瓷壳台阶的直径为86-90mm。

4.根据权利要求3所述的高均匀电场型中间封接环,其特征在于:所述底平面的外直径为102.5mm,屏蔽筒台阶的直径为97.5mm,瓷壳台阶的直径为89.5mm。

5.根据权利要求1所述的高均匀电场型中间封接环,其特征在于:所述立边的直径为75-78mm、高度为9-9.5mm。

6.根据权利要求5所述的高均匀电场型中间封接环,其特征在于:所述立边的直径为78mm、高度为9.5mm。

7.根据权利要求1所述的高均匀电场型中间封接环,其特征在于:所述中间封接环的整体高度为18-20mm。

8.根据权利要求7所述的高均匀电场型中间封接环,其特征在于:所述中间封接环的整体高度为20mm。

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