[实用新型]测微计

说明书

技术领域

本实用新型涉及的是测微计。详细地说，涉及的是能够防止对测量对象带来损伤的测微计。

背景技术

现有技术下，测微计设有：形成为略U字形的主体部、保持于该主体部的一端上的测砧(anvil)、与形成于主体部的另一端内部的螺纹部螺合并相对于测砧进退的测杆(spindle)、以及使测杆螺合旋转并使测杆相对于测砧进退的套筒(thimble)。在对测量对象的被测量部的尺寸进行测量时，旋转套筒而使测杆靠近测砧，从而使测杆与设置于其与测砧之间的测量对象相接触。读取此时的测微计所显示的测量值而进行测量。在测微计中，存在以数位来显示被测量部的尺寸的测量值的数位显示方式的测微计、或者读取设置于测微计上的刻度的模拟显示方式的测微计。另外，还存在为了使测杆相对于测量对象的测量压力成为固定而设有定压机构的测微计。这样的测微计，若使套筒朝向一方向旋转的话，则该旋转通过传递部件而被传递至测杆，从而使测杆在旋转的同时靠近测量对象，随即便与测量对象相接触。

但是，在对光学透镜或信息记录用媒体基板、半导体芯片等那样的、微小的伤痕也会成为重大的缺陷的测量对象的外径或厚度尺寸进行测量时，存在由于测杆在旋转的同时与测量对象相接触，因此，测杆的端面与测量对象滑动接触而在测量对象上产生伤痕的情况。而且，由于若不利用测砧和测杆并以规定值以上的测量压力来夹持测量对象的话，则测量对象容易倾斜或移动，因此，在测杆与测量对象相接触后，也呈测杆在旋转的同时与测量对象压力接触，从而伤痕的发生概率进一步增大。

另外，设有定压机构的现有的测微计，由于构成为测量压力能够在5N～10N的范围内进行设定，因此，在5N以上的负荷作用于测杆上时测杆的靠近移动停止。但是，光学透镜或信息记录用媒体基板等的精密零件，即使在作用有5N左右的测量压力时也会产生伤痕，因此，在现有的测微计中，不对精密零件造成损伤而正确地测量尺寸是困难的。

实用新型内容

本实用新型的目的在于，提供一种能够防止对测量对象带来损伤并正确地测量被测量部的尺寸的测微计。

本实用新型涉及的测微计，设有：主体部、设置于上述主体部的一端上的测砧、能够进退地设置于上述主体部的另一端上的测杆、以及使上述测杆相对于上述测砧进退的操作部，并对被上述测砧和上述测杆夹持的测量对象的被测量部的尺寸进行测量，其特征在于，在上述测杆的一端上设有定压机构，该定压机构在规定以上的负荷作用于上述测杆上时，使上述操作部相对于上述测杆进行空转，同时，上述测杆设有旋转轴、非旋转轴以及连接部，上述旋转轴与上述操作部的旋转同步地进行旋转和进退，上述非旋转轴能够非旋转地进退移动并与测量对象相接触，上述连接部将上述旋转轴和上述非旋转轴以不能整体旋转地加以连接。

另外，该测微计的特征在于，上述定压机构，能够在大于等于0.5N且小于5N的范围内对上述测杆接触上述测量对象的被测量部的压力进行调整，并在作用有5N以上的负荷时使上述操作部进行空转。

采用本实用新型的测微计的话，由于测杆以非旋转状态与测量对象相接触，因此，能够对测量对象不带来损伤地进行测量。另外，由于能够利用定压机构而在大于等于0.5N且小于5N的范围内对测杆接触测量对象的被测量部的压力进行调整，因此，不会使过大的测量压力作用于测量对象上，从而能够在抑制对测量对象的损伤的同时实现正确的测量。

附图说明

图1是本实用新型的实施方式涉及的测微计的整体示意图。

图2是上述实施方式的测微计的主要部分的剖面示意图。

图3是表示上述实施方式的测微计的连接部的例子的剖面图。

具体实施方式

以下，根据附图对本实用新型的实施方式进行说明。如图1和图2所示，测微计10设有：略U字形的主体部1、保持于该主体部1的一端部上的金属制的测砧2、通过内筒31螺合于主体部1的另一端部上并相对于测砧2进退的金属制的测杆(spindle)4、被套嵌固定于内筒31的外侧的外筒32、套筒(thimble)5以及定压机构6，其中，套筒5作为被旋转自如地嵌合于该外筒32的外侧并与测杆4呈整体地连接的操作部，定压机构6设置于测杆4的后端并在规定以上的负荷作用于测杆4时使套筒5进行空转。