[实用新型]第一镜样品辐照支架

说明书

技术领域

本实用新型属于材料与高温等离子体相互作用及高温等离子体诊断研究领域，具体涉及一种高真空和强磁场环境中第一镜样品辐照支架。 

背景技术

在受控核聚变实验研究中，许多物理和实验参数需要利用光学诊断方法如干涉仪来进行测量。为了获得探测信号，必须借助一些光学反射镜将等离子体信号引到测量系统。这些反射镜称为第一镜。高能量的等离子体将使反射镜遭受溅射腐蚀和杂质沉积，第一镜反射率将大辐下降，最终造成测量系统瘫痪。因此解决第一镜光学性能退化问题成为该行业目前研究的热点之一。理论研究推测，第一镜腐蚀与沉积与镜子的基底材料、基底温度及防护情况相关。但是具体的关系如何需要实验的验证。 

聚变装置如托卡马克装置由于结构的复杂性和高真空，高磁场的特点，通常材料样品装入装置后，必须经过半年或更长的时间才能打开真空室取出。期间经历的过程过于复杂，给分析研究带来了困难。另外由于聚变装置真空室内壁较薄，为避免放电中的拉弧，不容许连接220V的交流电源，用通常的电阻丝为样品材料加热就成为了问题。目前将第一镜材料样品装入真空室主要是人工放入的方法，因而亟需一种满足复杂实验条件的样品支架结构。 

发明内容

本实用新型的目的在针对聚变装置中实验样品辐照受到的限制，提供一种可以通过温度控制、方便更换不同材料样品且不破坏装置真空条件的第一镜样品辐照支架与辐照方法。 

本实用新型的技术方案如下： 

第一镜样品辐照支架，包括两个平行摆放的样品架，在一个样品架的内 部置有陶瓷加热片，在陶瓷加热片上方置有温度传感器A和样品A，所述样品A与陶瓷加热片接触并通过陶瓷加热片加热；在样品A上方压有样品压板A；在另一个样品架的内部置有样品B和温度传感器B，温度传感器B用于测量样品B的温度，在样品B上方压有样品压板B；所述陶瓷加热片、温度传感器A、温度传感器B的电源线与信号线与外部电源和显示器相连。 

如上所述的第一镜样品辐照支架，其中：所述两个样品架共用一个底座，在底座与两个样品架的连接处分别置有绝缘隔板A和绝缘隔板B，底座内置有能源和传感器接线柱。 

如上所述的第一镜样品辐照支架，其中：所述样品压板A、样品压板B通过螺纹或螺丝压钉固定在样品架上；且所述样品压板A、样品压板B为中心带有通孔的圆板。 

如上所述的第一镜样品辐照支架，其中：所述样品压板A、样品压板B的中心通孔为圆柱型或圆台型。 

本实用新型的有益效果是： 

1.多功能第一镜样品台布置为两个样品架平行摆放格局，且利用陶瓷加热片和温度传感器加热和控制样品温度，便于同一等离子体放电情况下不同样品条件(如不同样品材料，不同样品基底温度)的实验比较； 

2.通过接有直流电源的陶瓷加热片为样品加热，避免了220V交流电源对等离子体放电的影响。 

3.样品压板具有不同形状的通孔，可以适应样品材料不同污染机制的实验研究。 

4.螺纹连接的样品压板方便了不同样品压板形状的更换与对比实验。 

5.通过绝缘隔板将第一镜样品台架的两个样品架与底座绝缘，保证了在使用传动杆通过与底座相连操作第一镜样品台架时，两个样品架与传动杆绝缘，避免了样品台架电位对聚变装置真空室内壁的影响。 

附图说明

图1是本实用新型提供的一种第一镜样品台辐照系统的结构示意图； 

图2是本实用新型提供的一种第一镜样品台架的结构示意图； 

图3是中心通孔为柱型的样品压板示意图； 

图4是中心通孔为带齿状柱型的样品压板示意图； 

图5是中心通孔为圆台型的样品压板示意图； 

图6是中心通孔为带齿状圆台型的样品压板示意图； 

图中：1.样品台架，2.闸板阀，3.传动杆，4.样品压板A，5.样品压板B，6.样品A，7.温度传感器A，8.陶瓷加热片，9.绝缘隔板A，10.样品B，11.温度传感器B，12.绝缘隔板B，13.能源和传感器接线柱，14.电路与温度控制测量及真空抽气装置，15.外界真空室，16.聚变装置真空室。 

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型提供的一种第一镜样品辐照支架进行详细的描述。