[实用新型]LED辐射波长测试定位装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种LED辐射波长测试定位装置，尤其是一种具有结构简单，且测试出来的LED辐射波长值稳定、准确和可靠特点的LED辐射波长测试定位装置。

背景技术

随着节能降耗的理念被越来越多的人所接收，用能耗低的LED发光器件作为照明光源必然会代替现有的白炽灯。作为评价LED发光器件的光度学参数与辐射度学参数主要有：一是光通量Φv(Luminous Flux)：通过发光二极管的正向电流为规定值时，器件光学窗口发射的光通量。二是发光强度Iv(Luminous Intensity)：光源在单位立体角内发射的光通量，可表示为IV＝dΦ/dΩ；三是相对光谱能量(功率)分布P()(RelativeSpectral Distributions)：在光辐射波长范围内，各个波长的辐射能量分布情况；四是峰值发射波长p(Peak-emission Wavelength)：光谱辐射功率最大的值所对应的波长；五是光谱半波宽Δ(Full Width HalfMaximum，FWHM)：峰值发射波长的辐射功率的1/2所对应两波长的间隔。其中，LED的峰值波长p和光谱半波宽Δ是LED发光器件很重要的参数之一。LED相对光谱能量分布曲线的重要参数用峰值波长p和光谱半波宽Δ这两个参数表示。无论什么材料制成的LED，都有一个相对光辐射最强处，与之相对应有一个波长，此波长为峰值波长，它由半导体材料的带隙宽度或发光中心的能级位置决定。光谱半波宽Δ定义为相对光谱能量分布曲线上，两个半极大值强度处对应的波长差，它标志着光谱纯度，同时也可以用来衡量半导体材料中对发光有贡献的能量状态离散度，LED的发光光谱的半宽度一般为30-100nm，光谱宽度窄意味着单色性好，发光颜色鲜明，清晰可见。

目前，用于测试LED峰值辐射波长的方法，均是使用光频谱仪进行测试的。一般做法是用一只手紧握正在发光的LED发光器件，另一只手紧光频谱仪的探头，不断调整LED发光器件与光频谱仪的探头位置关系，观察光频谱仪的波形，当波长达到是大波值时，记录下相应波长值，从而得出LED峰值辐射波长值。用这种方法测试测试LED峰值辐射波长存在如下问题，一是人的双手极易幌动，容易使LED发光器件脱离光频谱仪探头的探测区域，而无法检测；二是人的双手之间的距离不稳定，造成LED发光器件与光频谱仪探头之间的距离也不稳定，所测试的结果也不稳定，与实际数值有偏差，不得不多次测定后，取其平均值，造成不必要的重复劳动。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服以上缺点，向社会提供一种与光频谱仪配套使用的LED辐射波长测试定位装置，该LED辐射波长测试定位装置具有结构简单，且测试出来的LED辐射波长值稳定、准确和可靠的特点。

本实用新型的技术方案是：设计一种LED辐射波长测试定位装置，包括导轨，在所述导轨上设有LED支架滑块和探头支架滑块，在所述LED支架滑块上设有LED支架，在所述LED支架上设有用于固定LED的LED夹；在所述探头支架滑块上设有探头支架，在所述探头支架上设有探头夹。

作为对本实用新型的改进，在所述LED支架上部设有LED通槽，在所述LED通槽内有LED夹滑块，所述LED夹与所述LED夹滑块固定连接，所述LED夹滑块与伸进于LED通槽的螺杆下端固定连接，所述螺杆的上端向上伸出于LED支架之上。

作为对本实用新型的进一步改进，在所述探头支架31上部设有探头通槽，在所述探头通槽内有探头夹滑块，所述探头夹与所述探头夹滑块固定连接，所述探头夹滑块与伸进于探头通槽的螺杆下端固定连接，所述螺杆的上端向上伸出于探头支架之上。

作为对本实用新型的更进一步改进，在所述LED支架外侧设有用于定位LED支架的LED支架定位装置。

作为对本实用新型的更进一步改进，所述LED支架定位装置是一螺杆，当螺杆被向下旋时，所述螺杆的下端顶在所述导轨，所述LED支架被固定不动。

作为对本实用新型的更进一步改进，在所述探头支架外侧设有用于定位探头支架的探头支架定位装置。

作为对本实用新型的更进一步改进，所述探头支架定位装置是一螺杆，当螺杆被向下旋时，所述螺杆的下端顶在所述导轨，所述探头支架被固定不动。

作为对本实用新型的更进一步改进，在所述导轨的下方还设有主导轨，所述导轨通过两个主滑块与所述主导轨滑动连接。

本实用新型具有结构简单，且测试出来的LED辐射波长值稳定、准确和可靠的优点。

附图说明

图1是本实用新型一种实施例的结构示意图。

具体实施方式