[实用新型]用于静电放电测试的夹具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于静电放电测试的夹具。

背景技术

静电放电(Electrostatic Discharge，简称ESD)是造成电子组件或电子系统受到过度电性应力(Electrical Overstress，简称EOS)破坏的主要因素，这种破坏会导致半导体组件形成永久性的毁坏，因而影响集成电路(Integrated Circuits，简称ICs)的电路功能，使得电子产品工作不正常。

ESD产生的原因及其对集成电路放电的方式有很多种，相对应的研究和测试模式也很多，其中就包括静电放电枪(ESD-gun，简称E-gun)模式。静电放电枪模式是指由一个静电放电发生器(ESD Generator)产生一个符合国际和国家标准的随时间变化的电流波形，再将这个电流碰触到IC，电流经由IC的脚(pin)进入IC内，再经由IC放电到地。

以往，卡类产品的E-gun测试中，例如对SIMCARD的测试过程中，通常由一人控制静电放电枪，一人控制接地线及固定测试卡，测试过程费时费力，工作效率低下。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种用于静电放电测试的夹具，解决了在卡类产品的静电放电枪测试中需要一人专门对被测物固定及接地 才能测试的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型用于静电放电测试的夹具，包括绝缘承载台、一个或多个夹具主体，所述夹具主体的底部与绝缘承载台铰接，夹具主体上设有与被测件接触的弹簧探针，弹簧探针与接地线相连。

优选的，所述绝缘承载台上设有一个或多个容纳固定被测件的凹槽，所述凹槽的形状与被测件的形状一致。

优选的，所述夹具主体呈L型，其底部的自由端通过合页与承载台铰接，另一自由端一侧装有弹簧探针。

本实用新型能够很好地固定住各种卡类产品及控制接地线，可以应用于E-gun的ESD测试，节省了工作时间和人力，提高了工作效率。

附图说明

下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明：

图1是本实用新型用于静电放电测试的夹具的主视图；

图2是本实用新型用于静电放电测试的夹具的俯视图；

图3是本实用新型用于静电放电测试的夹具的动作示意图。

其中附图标记说明如下：

1为绝缘承载台；2为夹具主体；3为弹簧探针；4为接地线；5为被测件。

具体实施方式

本实用新型用于静电放电测试的夹具，如图1、2所示，包括绝缘承载台1、四个夹具主体2，所述夹具主体2的底部与绝缘承载台1铰接，夹具 主体2上设有弹簧探针3，所述弹簧探针3与接地线4相连。

所述绝缘承载台1上设有四个与夹具主体2相对应的凹槽，所述凹槽的形状与被测件5的形状一致，在测试过程中将卡类被测件放入凹槽中便于限位固定。

所述夹具主体2呈L型，其底部的自由端通过合页与绝缘承载台1铰接，如图3所示，便于被测件5的放置与取下，另一自由端一侧装有弹簧探针3，接地的同时减少了机械本身对被测件5的损伤。

所述绝缘承载台1由硬塑料制成。所述夹具主体2的材料为金属或硬塑料，弹簧探针3的材料为导电性能较好的铜镀金。接地线4为铜线等常规接地线材料，外用橡胶等绝缘材料保护。

在上述结构中，可以根据实际测试的需要设置绝缘承载台1的凹槽数量以及夹具主体2的数量、位置。本实用新型不仅适用于标准SIMCARD的静电放电测试，也适用于其它同类型卡类产品的测试，解决了卡类产品在E-gun测试中固定及接地的问题，只有一人也能方便地进行卡类产品的E-gun测试，节省了测试时间，提高了工作效率。

以上通过具体实施例对本实用新型进行了详细的说明，但这些并非构成对本实用新型的限制。在不脱离本实用新型原理的情况下，本领域的技术人员还可对夹具主体的形状、数量或承载台的结构等做出许多变形和等效置换，这些也应视为本实用新型的保护范围。