[发明专利]RAID卡的测试方法有效
申请号: | 201110455790.9 | 申请日: | 2011-12-31 |
公开(公告)号: | CN102541704A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 李景运 | 申请(专利权)人: | 曙光信息产业股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京德恒律师事务所 11306 | 代理人: | 陆鑫;房岭梅 |
地址: | 300384 天津市西青区华*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | raid 测试 方法 | ||
技术领域
本发明基本上涉及服务器领域,更具体地来说,涉及RAID卡的测试方法。
背景技术
RAID(Redundant Array of Independent Disk,独立冗余磁盘阵列)卡作为服务器内的关键部件,可以有效地保护用户的数据安全。但是如果RAID卡本身不能够稳定工作,则数据安全也就无从谈起了。目前业界对于RAID卡的测试偏重性能较多,对于稳定性的测试也大多局限于长时间的压力测试。
现有技术中提供了一种测试RAID卡兼容性和稳定性的方法,其特征在于测试步骤如下:1)RAID卡结构测试测试RAID卡与机箱、主板、线缆在安装结构上的配合是否有无松动,包括跌落、振动摸底测试;2)RAID卡基本功能测试:(1)加电自检,查看被测RAID卡的缓存容量、firmware版本信息是否正确,与部件工程师提供的《RAID卡选型报告》里的部件信息是否一致;(2)检查该RAID卡各项参数、功能是否符合选型报告;察看该RAID卡所连接的硬盘信息、创建各种RAID级别是否顺利进入创建界面,正常识别硬盘型号、传输速率,cache大小,id信息,硬盘识别过程中有无异常,选择其中的磁盘实现RAID卡级别的创建;(3)冷热反复开关机启动各10次,检测是否出现检测不到RAID卡或是死机、蓝屏异常现象;3)操作系统兼容性测试:(1)Windows系统兼容性测试:安装Windows操作系统,正常加载部件工程师提供的RAID卡驱动,划定分区时,检测磁盘阵列容量大小是否正常,是否出现蓝屏等异常现象;(2)系统安装完毕后,察看该部件信息,确定被测部件信息是否正常;(3)RAID卡的管理功能验证,要求能正常安装部件自带的管理软件,可以实现软件提供的各项功能。4)Linux系统兼容性测试(1)安装Red Hat AS 5.0、SUSE 10操作系统,依照所测机型一类操作系统的定义,完整测试该机型的一类操作系统,检测安装过程中正常加载部件工程师提供的驱动,是否出现无法安装的异常现象;(2)在Linux系统下察看被测部件信息是否正常;(3)RAID卡的管理功能验证,要求能正常安装部件自带的管理软件,实现软件提供的各项功能;5)稳定性测试:测试被测RAID卡在大压力情况下的稳定性(1)Windows系统下运行I/O meter、Maxpower压力软件12小时以上,运行过程正常,不出现掉盘、死机现象,系统日志没有报错信息;(2)系统下重启600次;运行过程正常,没有出现掉盘、死机现象,系统日志没有报错信息。
上述测试方法能够在一定程度上测试出RAID卡的稳定性。然而,上述测试方法只考虑到在RAID阵列在正常工作情况下的压力测试,而当RAID阵列中有硬盘掉线后,RAID会处于降级(Degraded)状态,此时RAID阵列相对脆弱,但是上述方案并未涉及这种情况下的RAID卡压力测试。此外,当硬盘掉线后,当用户重新接入新硬盘时,RAID阵列会处于重建(Rebuilding)状态,而上述测试方法没有涉及在这种情况下的RAID卡压力测试。另外,上述方案所涉及的开机、关机测试需要人手工操作且次数较少,不仅无法自动进行多次不断开AC电源的开机、关机操作(DC on/off)测试,而且操作繁琐。
发明内容
针对现有技术无法测试处于降级(Degraded)状态和重建(Rebuilding)状态的RAID阵列中的RAID卡的稳定性,并且无法自动多次进行开机、关机测试的缺陷,本发明提供了一种RAID卡的测试方法,从而解决了如何测试处于降级(Degraded)状态和重建(Rebuilding)状态的RAID阵列中的RAID卡的稳定性的技术问题,还解决了如何自动多次进行开机、关机测试的技术问题。
本发明提供了一种RAID卡的测试方法,包括:步骤S1:将RAID卡与多块硬盘相连接,从而形成RAID阵列;以及步骤S2:移除所述RAID阵列中的至少一块硬盘,并使用第一硬盘压力测试工具对所述RAID阵列进行压力测试。
在该RAID卡的测试方法中,进一步包括:步骤S3:将在所述步骤S2中移除的硬盘安装回所述RAID阵列,并使用第二硬盘压力测试工具对所述RAID阵列进行压力测试。
在该RAID卡的测试方法中,进一步包括:步骤S4:在不断开电源的情况下,对所述RAID阵列所在的服务器连续进行多次开启操作和关闭操作。
在该RAID卡的测试方法中,所述第一硬盘压力测试工具为IOmeter或者IOzone。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于曙光信息产业股份有限公司,未经曙光信息产业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110455790.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:金属氧化物半导体器件及其形成方法
- 下一篇:投影机及调整模组