[发明专利]磁控开关电气寿命的检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及电气技术领域，特别涉及一种磁控开关电气寿命的检测装置。

背景技术

磁控开关(干簧管)是一种磁敏的特殊开关。它的两个触点由特殊材料制成，被封装在真空的玻璃管里。当磁铁接近时，磁控开关的两个节点就会吸合在一起，使电路导通。因此，磁控开关常被用作传感器，用于计数、限位等。

目前，检测磁控开关电气寿命的装置主要是专用的脉冲式电磁线圈，该装置比较复杂而且往往只能测出某些特定电路特性下的电气寿命。由此，用脉冲式电磁线圈测磁控开关存在以下问题，设备成本高，导致设计成本的上升。测试环境单一，由于规格书上给出的测试条件与实际电气环境有较大差异，如冰箱使用过程中磁控开关的真实温度、最大开关电流、开关电压、触点负载等，将导致磁控开关电气寿命的测试结果产生较大的偏差，从而影响电气设备，如冰箱的性能。

然而，对于不同灵敏度的磁控开关、最大开关电流、开关电压、触点负载以及磁控开关的工作温度都会影响磁控开关的电气寿命。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。

为此，本发明的目的在于提出一种磁控开关电气寿命的检测装置，该监测装置能够模拟多种测试环境，从而检测出磁控开关在不同模拟环境下的电气寿命，具有测试准确的优点，且该装置结构简单，成本低。

为了实现上述目的，本发明的实施例提出了一种磁控开关电气寿命的检测装置，包括传送带；支架，所述支架支撑所述传送带；控制所述传送带转动的电机；位于所述传送带一侧的一个或多个磁控开关；分别与所述一个或多个磁控开关相互串联的一个或多个第一发光器件；与所述一个或多个磁控开关及所述一个或多个第一发光器件以及所述电机相连的直流电源，用于为所述一个或多个磁控开关及所述一个或多个第一发光器件以及所述电机供电；以及设置在所述传送带上的至少一个磁铁，所述磁铁随所述传送带转动以不断地触发所述一个或多个磁控开关。

根据本发明实施例的磁控开关电气寿命的检测装置，电机驱动传送带转动，使得磁铁经过磁控开关的感应区域时，磁控开关在磁铁磁力作用下导通，从而点亮第一发光器件。按上述过程，随着磁铁的不停转动，第一发光器件将被不断地点亮，当第一发光器件不能被点亮时可判定磁控开关失效，从而可以测出磁控开关的电气寿命。

另外，根据本发明上述实施例的磁控开关电气寿命的检测装置还可以具有如下附加的技术特征：

根据本发明的一个实施例，所述直流电源至少包括第一输出端、第二输出端和第三输出端，所述第一输出端输出第一电压，所述第二输出端输出第二电压，且所述第三输出端输出第三电压，所述第一输出端、第二输出端和第三输出端分别与一个第一发光器件和磁控开关相连。由此，通过选择不同的输出端对第一发光器件进行供电，可以使第一发光器件工作在不同的电压下，进而可以检测出磁控开关在不同的测试环境(电压)下的电气寿命。

根据本发明的一个实施例，所述第一电压为5v、所述第二电压为12v，所述第三电压为15v。

根据本发明的一个实施例，还包括交流电源，所述交流电源与至少一个第二发光器件和磁控开关相连。由此，进一步增加了测试环境，使磁控开关可以在交流电源下检测其电气寿命。

根据本发明的一个实施例，所述交流电源提供220v的电压。

根据本发明的一个实施例，所述磁控开关电气寿命的检测装置还包括：与所述一个或多个第一发光器件并联的第一可调电阻以通过所述第一可调电阻调整通过相应磁控开关的电流。由此，通过调节第一可调电阻调整通过相应磁控开关的电流，使得磁控开关可以在一个电流区间内的任意一个电流下进行电气寿命的测试，进一步模拟磁控开关所在的真实环境，使得磁控开关的电气寿命测试结果更加精确。

根据本发明的一个实施例，所述电机的转速可调。

根据本发明的一个实施例，所述磁控开关电气寿命的检测装置还包括：连接在所述直流电源和所述电机之间的第二可调电阻，并通过调整所述电机的电压以调整所述电机的转速。由此，通过调节第二可调电阻调整磁铁通过磁控开关的速度，使得磁控开关可以在不同磁铁通过磁控开关通过其的速度的电气环境(测试环境)中进行磁控开关的电气寿命测试，进一步提升磁控开关的电气寿命的测试准确性，进而能够准确地验证磁控开关的电气寿命是否在要求范围以内。