[发明专利]测试方法及设备

说明书

技术领域

本发明涉及测试技术，尤其涉及测试方法及设备。

背景技术

利用测试软件对存储器进行测试广泛应用于硬件开发领域。例如，测试软件利用测试数据对闪存进行测试。具体过程可以是，先将测试数据写入待测试的存储器的存储块中，然后读取该存储块。通过比较写入的测试数据与读取的数据是否一致，判断待测试的存储器是否正常。

然而，对存储器进行测试可能会破坏存储器中的数据，访问发生破坏的数据可能会发生错误。

发明内容

一方面，本发明实施例提供了一种测试方法，包括：

将待测试的第一存储器中的第一数据写入第二存储器中；

在对所述第一存储器进行测试的过程中，当欲访问所述第一存储器中的所述第一数据时，对所述第二存储器中写入的所述第一数据执行第一访问。

另一方面，本发明实施例提供了一种测试方法，包括：

将待测试的第一存储器中的数据写入第二存储器中；

对所述第一存储器进行测试；

所述测试结束后，将所述第二存储器中写入的所述数据写入所述第一存储器中，以便于通过所述第一存储器对所述数据进行访问。

另一方面，本发明实施例提供了一种测试设备，包括：

第一写入单元，用于将待测试的第一存储器中的第一数据写入第二存储器中；

访问单元，用于在对所述第一存储器进行测试的过程中，当欲访问所述第一存储器中的所述第一数据时，对所述第二存储器中写入的所述第一数据执行第一访问。

另一方面，本发明实施例提供了一种测试设备，包括：

第一写入单元，用于将待测试的第一存储器中的数据写入第二存储器中；

测试单元，用于对所述第一存储器进行测试；

第二写入单元，用于所述测试单元测试结束后，将所述第二存储器中写入的所述数据写入所述第一存储器中，以便于通过所述第一存储器对所述数据进行访问。

现有技术中，对存储器进行测试可能会破坏存储器中的数据。对被破坏的数据进行访问可能会发生错误。本实施例提供的技术方案中，访问的是没有被测试破坏的数据，因此不会出现现有技术中由于访问被破坏的数据而发生错误的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种测试方法的流程示意图；

图2为本发明实施例提供的另一种测试方法的流程示意图；

图3为本发明实施例提供的另一种测试方法的流程示意图；

图4为本发明实施例提供的一种测试设备的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的另一种测试设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例一

图1为本发明实施例提供的一种测试方法的流程示意图。如图1所示，本实施例的测试方法包括：

101、将待测试的第一存储器中的第一数据写入第二存储器中。

102、在对上述第一存储器进行测试的过程中，当欲访问上述第一存储器中的上述第一数据时，对上述第二存储器中写入的上述第一数据执行第一访问。