[发明专利]基于硅光电倍增器的环境X、γ辐射测量方法及测量装置无效
申请号: | 201110391344.6 | 申请日: | 2011-11-30 |
公开(公告)号: | CN103135123A | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 靳根;陈法国;刘倍;徐园;王希涛;杨亚鹏 | 申请(专利权)人: | 中国辐射防护研究院 |
主分类号: | G01T1/208 | 分类号: | G01T1/208 |
代理公司: | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人: | 田明;任晓航 |
地址: | 030006 *** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 光电 倍增器 环境 辐射 测量方法 测量 装置 | ||
技术领域
本发明涉及辐射测量技术,具体涉及一种基于硅光电倍增器的环境X、γ辐射测量方法及测量装置。
背景技术
在闪烁体探测器中,通常采用光电倍增管作为光电转换器件。典型的光电倍增管主要由光阴极和电子倍增系统两部分组成,其中光阴极将光信号转化为电信号,电子倍增系统将电信号进行放大。
近年来,出现了新型的基于硅二极管的光电转换器件——硅光电倍增器。硅光电倍增器是由多个工作在盖革模式下的雪崩二极管(APD)组成的阵列。单个APD对可见光响应后所产生电信号的大小是固定的,与光的强弱无关,相当于一个数字器件;而多个APD形成阵列后,其输出电信号的总和就正比于光强,能够实现可见光的探测。因此,硅光电倍增器就可用于闪烁体探测器中,作为闪烁体发光后的光电转换和信号放大器件。与普通的光电倍增管相比,硅光电倍增器具有体积小、工作电压低、响应时间短等优点。
发明内容
本发明的目的在于利用硅光电倍增器的特点,提供一种基于硅光电倍增器的环境X、γ辐射测量方法及测量装置,以提高辐射测量装置的探测性能和便携性。
本发明的技术方案如下:一种基于硅光电倍增器的环境X、γ辐射测量方法,包括如下步骤:
(S1)环境中的X射线或γ射线照射闪烁晶体,使闪烁晶体发出可见光;
(S2)可见光照射到硅光电倍增器上,经硅光电倍增器的雪崩二极管阵列的光电转换,产生与可见光强度成正比的电信号;
(S3)电信号经放大后输出给信号和数据处理单元,进行X射线或γ射线的剂量换算,得到辐射剂量值。
进一步,如上所述的基于硅光电倍增器的环境X、γ辐射测量方法,在步骤(S3)中,当电信号以脉冲形式输出时,利用输出脉冲幅度对剂量的权重函数G(E)函数法来估算辐射剂量;当电信号以电流形式输出时,由电流信号直接转换为辐射剂量,并同时进行温度补偿。
一种基于硅光电倍增器的环境X、γ辐射测量装置,包括由闪烁晶体和硅光电倍增器组合而成的探头,硅光电倍增器连接电源,硅光电倍增器的输出端与信号和数据处理单元连接,信号和数据处理单元与具有显示、报警和设定功能的人机交互平台连接。
进一步,如上所述的基于硅光电倍增器的环境X、γ辐射测量装置,其中,所述的闪烁晶体和硅光电倍增器之间通过光导连接。
进一步,如上所述的基于硅光电倍增器的环境X、γ辐射测量装置,其中,所述的闪烁晶体为CsI(Tl)晶体。
本发明的有益效果如下:本发明用硅光电倍增器代替传统的真空型光电倍增管,实现以闪烁晶体为探测器的环境X、γ辐射剂量仪表的设计,利用硅光电倍增器体积小、工作电压低、响应时间短、对磁场不敏感等特点,将其作为闪烁体探测器的光电转换和信号放大部件,设计用于环境X、γ射线测量的辐射探测装置,从而进一步实现便携式环境X、γ剂量仪的小型化。
附图说明
图1为本发明的测量装置原理结构示意图;
图2为本发明的测量方法流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细的描述。
与光电倍增管相比,硅光电倍增器具有体积小、工作电压低、响应时间短等优点。如表1所示,是光电倍增管和硅光电倍增器的典型参数对比。
表1
本发明正是利用了硅光电倍增器的上述特点,用其替代传统的真空型光电倍增管,实现环境X、γ辐射剂量仪表的设计。
本发明所提供的基于硅光电倍增器的环境X、γ辐射测量装置的原理结构如图1所示,包括由闪烁晶体和硅光电倍增器组合而成的探头,硅光电倍增器连接电源,硅光电倍增器的输出端与信号和数据处理单元连接,信号和数据处理单元包括信号采集部分和数据运算部分,信号和数据处理单元与具有显示、报警和设定功能的人机交互平台连接。
如图2所示,基于上述装置的测量方法,包括如下步骤:
(S1)环境中的X射线或γ射线照射闪烁晶体,使闪烁晶体发出可见光;
(S2)可见光照射到硅光电倍增器上,经硅光电倍增器的雪崩二极管阵列的光电转换,产生与可见光强度成正比的电信号;
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