[发明专利]一种获得电磁响应曲线特征参数的方法及其装置

说明书

技术领域

本发明涉及超材料领域，特别是涉及一种获得人工电磁材料单元结构的电磁响应曲线特征参数的方法及其装置。

背景技术

针对人工电磁材料的标准化、自动化设计方案是目前国际上一个亟需解决的难题。而针对人工电磁材料结构单元的电磁特性测量是人工电磁材料设计过程中不可或缺的一个重要环节。

目前对人工电磁材料的研究和设计尚停留在凭经验手工调节和设计的阶段，缺乏标准化的设计流程，无法进行大规模设计和产业化应用。

因此，有必要提供一种获得人工电磁材料单元结构的电磁响应曲线特征参数的方法及其装置，有效地解决上述存在的问题。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种获得人工电磁材料单元结构的电磁响应曲线特征参数的方法及其装置，能够使人工电磁材料的研究处于标准化的设计流程，以方便进行大规模设计和产业化应用。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种获得人工电磁材料单元结构的电磁响应曲线特征参数的方法，包括：建立用于描述所述电磁材料单元结构几何参数与电磁响应曲线特征参数之间对应关系的高斯混合模型；根据所述建立的高斯混合模型，确定待测量电磁材料单元结构几何参数所对应的电磁响应曲线特征参数。

其中，所述确定待测量电磁材料单元结构几何参数所对应的电磁响应曲线特征参数的步骤包括：通过插值的方法确定待测量电磁材料单元结构几何参数所对应的电磁响应曲线特征参数。

其中，所述高斯混合模型建立的步骤包括：

建立由K个高斯分布组成的高斯混合模型，每个高斯分布称为一个组分，所述K个组分线性加成在一起组成了高斯混合模型的概率密度函数：

p(x)=Σk=1Kp(k)p(x|k)=Σk=1KπkN(x|μk,Σk)---(1)]]>

其中，K是正整数；

利用最大似然估计来确定所述参数π_k、μ_k及∑_k，其中所述高斯混合模型的似然函数为：