[发明专利]一种产品质量检测仪

说明书

技术领域：

本发明涉及外观及内部质量检测技术领域，具体涉及用于烟草、制药等轻工业高速生产线上的一种产品质量检测仪。

背景技术：

在我国各行业高速生产线，小型的产品外观进行检测一般是通过点或面进行检测，不能进行全方位的检测，并且检测反应速度较慢。使许多有未能检测到有缺陷的产品流入市场，给消费者带来损失同时也给厂家带负面的影响。

发明内容：

本发明的目的是提供一种产品质量检测仪，它可同时完成对产品的密度、外观、端头缺损情况的综合检测，比单检测功能更全、效率更高、空间占用更小、使用更便捷。

为了解决背景技术所存在的问题，本发明是采用以下技术方案：它包含电容式传感器1、光电传感器2、红外光电传感器3、PQD前段处理器4、扫描检测板5和转换连接器6，电容式传感器1和光电传感器2均与扫描检测板5连接，红外光电传感器3与PQD前段处理器4连接，PQD前段处理器4和扫描检测板5均与转换连接器6连接。

所述的电容式传感器1对产品端头外观和内部密度进行检测，一旦对产品质量密度和单端外观质量有问题时，检测器就将检测信号送至处理电路进行处理，产生一电压信号。此电压信号再送至控制系统，由控制电路完成对不合格产品的剔除工作。

所述的电容式传感器1的原理是以一同心圆环铜片接近产品的一端，接近方式为电容片和产品端横截面轴向重合，电场线穿过产品的一端，产品的物质密度将影响电容的介质数￡从而使得电容的值发生变化，密度检测问题转化为电容值的检测问题。可将此电容与一个可调电感串联，构成Lc选频回路。

所述的电容式传感器1包含振荡电路7、晶体管放大电器8、选频回路9、检波回路10、电容探头11、放大/输出电路12和电压信号输出端13，振荡电路7分别与晶体管放大电器8和检波回路10连接，晶体管放大电器8与选频回路9连接，选频回路9与检波回路10连接，且选频回路9与电容探头11连接，检波回路10与放大/输出电路12连接，放大/输出电路12与电压信号输出端13连接。

所述的光电传感器2对产品端头外观进行检测，来判断产品一端质量问题，如果端头的质量出现问题，检测器会输出电信号至控制系统，控制机器的运行，同时不合格的产品控制剔除。

所述的红外光电传感器3主要对产品的外观缺陷，如包装出现翘边、折边、弯曲、畸形等，它是通过一端发射一束圆形的红外光柱，产品经过时产品遮住一平行红外光束的强度来判断，然后把光信号转变成电信号，通过控制电路控制产品剔除。这种控制方式也称为产品光学检查系统。在此检测仪内部的信号处理板上有一电位器，可调整检测的灵敏度。

所述的红外光电传感器3包含反光板14、第一透镜15、传感器16、第二透镜17、第三透镜18、第四透镜19和光源20，反光板14的后侧设置有第一透镜15，第一透镜15的后侧设置有传感器16，反光板14的下方设置有第二透镜17，第二透镜17的下方设置有第三透镜18，第三透镜18的下方设置有第四透镜19，第四透镜19的下方设置有光源20。

所述的红外光电传感器3当机器启动后，一个个产品从PIS的光学检测部位高速通过，理想的输出信号为标准正弦波。当烟支有缺陷致使受光部件被阻挡而使光线变暗时，会引起输出信号的幅值改变，产品控制板能捕捉到这种变化。前面板上的多圈电位器用来调节剔除灵敏度，确保不会因微小的差异而误将正常产品剔除，顺时钟方向旋转电位器灵敏度降低。

本发明设计合理，结构简单，可同时完成对产品的密度、外观、端头缺损情况的综合检测，比单检测功能更全、效率更高、空间占用更小、使用更便捷；易于推广和使用。

附图说明：

图1为本发明的结构示意图。

图2为本发明的电路示意图。

图3为本发明的安装其座的示意图。

图4为本发明中电容式传感器的电路结构示意图。

图5为本发明中电容式传感器的电路原理图。

图6为本发明中光电传感器的电路原理图。

图7为本发明中红外光电传感器的结构示意图。

具体实施方式：

参照图1-图7，本具体实施方式采用以下技术方案：它包含电容式传感器1、光电传感器2、红外光电传感器3、PQD前段处理器4、扫描检测板5和转换连接器6，电容式传感器1和光电传感器2均与扫描检测板5连接，红外光电传感器3与PQD前段处理器4连接，PQD前段处理器4和扫描检测板5均与转换连接器6连接。