[发明专利]一种老化房温度控制系统

说明书

技术领域

本发明涉及领域电子产品老化房技术领域，特别涉及一种老化房温度控制系统。

背景技术

老化房是针对高性能电子产品(如：计算机整机、显示器、终端机、车用电子产品、电源供应器、主机板、监视器和交换式充电器等)仿真出一种高温、恶劣测试环境的设备，该设备已广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。

电子产品的高低温老化试验是排除电子产品早期失效，控制产品质量的必要手段。老化房内温度分布不均匀性是老化房的重要技术指标，将直接影响放置在不同老化房区域内电子产品的老化结果。目前，国内很多企业的电子产品老化房，其温度控制系统所检测的范围仅仅是老化房内的某一点温度，因而难以解决老化房内温度分布不均匀的实际问题，从而大大影响了电子产品高低温老化试验的实验结果。

发明内容

针对现有技术存在的问题，本发明的目的是提供一种老化房温度控制系统，其结构简单、布设方便且使用操作简单能有效地以闭环的控制形式达到自动控温的目的

本发明采用的技术方案为：

一种老化房温度控制系统，包括单片机1，单片机1第一输入/输出和故障检测2连接，单片机1第二输入/输出和故障显示3连接，单片机1第三输入/输出和温度显示4连接，单片机1的第四输入/输出依次通过光耦5、过零触发6、双向可控硅7和加热箱8连接，单片机1的第五输入/输出依次通过A/D转换9、温度变化10和热电偶11连接。

本发明与现有技术相比具有以下优点：

1.本发明设计合理、结构简单且电路部分连线简单；

2.传统的老化箱内温度控制普遍采用开环温控原理，这种方式属于超前控制方式，虽然具有响应迅速，控制结构简单的特点，但是存在致命的弱点，即系统累积误差，本发明采用PID温度控制技术，可有效解决这一问题，并且PID控制技术比较成熟、灵活可靠。

附图说明

附图为本发明的结构示意图

具体实施方式

下面结合附图对本发明做详细描述。

参照附图，一种老化房温度控制系统，包括单片机1，单片机1第一输入/输出和故障检测2连接，单片机1第二输入/输出和故障显示3连接，单片机1第三输入/输出和温度显示4连接，单片机1的第四输入/输出依次通过光耦5、过零触发6、双向可控硅7和加热箱8连接，单片机1的第五输入/输出依次通过A/D转换9、温度变化10和热电偶11连接。

本发明的工作原理为：

由热电偶11采集老化室内的温度，从而得出温度变化曲线，经过A/D转化9后将数据传送给单片机7，根据输入的各种命令，通过PID控制仪计算控制量，然后把它传给控制仪，控制仪把它与内部设定值进行比较运算，根据偏差值输出控制量来调节可控硅导通角的变化，输出脉冲触发信号，通过过零触发6电路驱动双向可控硅7，从而控制加热箱8加热，利用低温加热、高温通风的方法促使测量值恢复到给定值，也就是控制负载电流的变化，从而以闭环的控制形式达到自动控温的目的。