[发明专利]一种漆包线粒检器

说明书

技术领域

本发明涉及漆包线线粒度检查领域，特别涉及一种漆包线粒检器。

 

背景技术

随着社会的不断发展，对漆包线的加工精度要求越来越高，线粒度是漆包线的一个重要指标，因此常常需要进行检测，目前在生产过程中没有很好的检测设备，只能采用人工方式进行检测，这样即浪费时间，又降低生产效率。

 

发明内容

本发明通过设计一种漆包线粒检器，利用漆包线上如果有粒子直径不一样来进行检测，从而可很快知道该漆包线是否合格，为达到此目的，本发明提供一种漆包线粒检器，包括下L型支架、上支架、连接铰链和弹簧，所述上支架通过连接铰链安装在下L型支架上方，所述下L型支架上内侧设置有下触点，所述上支架下内侧设置有上触点，所述下L型支架下触点与上支架下上触点位置相对应，所述弹簧上端与上支架下内侧相连，弹簧下端与L型支架上内侧相连，所述上支架有凸部，凸部内有直径与待测漆包线所允许的最大直径相同的通孔，所述下L型支架有通孔，所述通孔大于待测漆包线所允许的最大直径。

作为本发明的另一种改进，所述连接铰链有1-2个，本专利下L型支架与上支架可采用一个大连接铰链进行连接，也可采用两个连接铰链对L型支架与上支架进行连接厂家可根据需要进行选择。

作为本发明的另一种改进，所述弹簧为1-3个，若弹簧为1个，弹簧套装在上触点和下触点上，若弹簧为2个，弹簧设置在上触点和下触点两侧，若弹簧为3个，其中一个弹簧套装在上触点和下触点上，另两个弹簧设置在上触点和下触点两侧，本专利可根据粒检器大小选择设置相应的弹簧，具体采用几个弹簧厂家可根据实际需要进行选择。

本发明通过设计一种漆包线粒检器，利用漆包线上粒子直径过大会带动上支架上触点与下L型支架上触点相接触，上下触点相接触后与漆包线粒检器相连的计数器数字会发生变化，操作工人根据计数器上数字即可知道该漆包线上超过指定半径的粒子数，从而可知道该漆包线是否合格。

 

附图说明

图1为本发明的示意图；

图中的构件为：

1、待测漆包线；      2、下L型支架；      2-1、通孔；

2-2、下触点；        3、上支架；          3-1、凸部；

3-2、上触点；        4、连接铰链；        5、弹簧；

具体实施方式

 

    以下结合附图和实施例对发明做详细的说明：

本发明通过设计一种漆包线粒检器，利用漆包线上如果有粒子直径不一样来进行检测，从而可很快知道该漆包线是否合格。

作为本专利一种具体实施例本发明提供结构示意图如图1所示一种漆包线粒检器，包括下L型支架2、上支架3、连接铰链4和弹簧5，所述上支架3通过连接铰链4安装在下L型支架2上方，所述连接铰链4有2个，本专利下L型支架4与上支架3可采用一个大连接铰链4进行连接，也可采用两个连接铰链4对L型支架4与上支架3进行连接厂家可根据需要进行选择，所述下L型支架2上内侧设置有下触点2-2，所述上支架3下内侧设置有上触点3-2，所述下L型支架2下触点2-2与上支架3下上触点3-2位置相对应，所述弹簧5上端与上支架3下内侧相连，弹簧5下端与L型支架2上内侧相连，所述弹簧5为2个，弹簧5设置在上触点3-2和下触点2-2两侧，本专利可根据粒检器大小选择设置相应的弹簧5，具体采用几个弹簧5厂家可根据实际需要进行选择，所述上支架3有凸部3-1，凸部3-1内有直径与待测漆包线1所允许的最大直径相同的通孔，所述下L型支架2有通孔2-1，所述通孔2-1大于待测漆包线1所允许的最大直径，本发明利用漆包线上粒子直径过大会带动上支架3上触点3-2与下L型支架2上触点2-2相接触，上下触点相接触后与漆包线粒检器相连的计数器数字会发生变化，操作工人根据计数器上数字即可知道该漆包线上超过指定半径的粒子数，从而可知道该漆包线是否合格。