[发明专利]基于标准尺的大尺寸高精度测量的方法和装置无效
| 申请号： | 201110360397.1 | 申请日： | 2011-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN103105110A | 公开（公告）日： | 2013-05-15 |
| 发明（设计）人： | 刘红旗;张敬彩;李秀明 | 申请（专利权）人： | 中机生产力促进中心 |
| 主分类号： | G01B5/02 | 分类号： | G01B5/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100044*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 标准 尺寸 高精度 测量 方法 装置 | ||
【权利要求书】：
1.基于标准尺的大尺寸高精度测量的方法和装置是采用两种膨胀系数不同(一大、一小)的材料制成标准尺，把它们一端固定在一起，让另一端自由膨胀，温度变化时可测得两标准尺膨胀后的尺寸差，并依此对标准尺长度进行精确的修正，其特征在于基于标准尺长度和测量头的小尺寸精密测量，实现大尺寸的高精度测量。
2.根据权利要求1所述的基于标准尺的大尺寸高精度的测量方法和装置，其特征为固定测头、固定量杆和两标准尺的固定端可靠接触。
3.根据权利要求1所属的基于标准尺的大尺寸高精度的测量方法和装置，其特征为测量头可以测量两标准尺的尺寸差。
4.根据权利要求1所属的基于标准尺的大尺寸高精度的测量方法和装置，其特征为固定测头、活动测头和标准尺(小膨胀系数)由同一种材料制成。
5.根据权利要求1所属的基于标准尺的大尺寸高精度的测量方法和装置，其特征为测量头与标准尺(大膨胀系数)安装在一起，一同膨胀。
6.根据权利要求1所属的基于标准尺的大尺寸高精度的测量方法和装置，其特征为活动测头移动范围可以调节。
7.根据权利要求1所属的基于标准尺的大尺寸高精度的测量方法和装置，其特征为加载螺母保证测量时对活动测头施加所需的测量力。
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