[发明专利]一种电子整机加速寿命评估方法

说明书

(一)技术领域

本发明涉及系统整机级产品寿命特征和可靠性特征的计算方法，尤其涉及一种电子整机加速寿命评估方法。对于整机样本极小子样，而且无法获取加速方程特点，采用贝叶斯后验统计思想处理复杂整机寿命评估，属于应用数学和可靠性工程领域。

(二)背景技术

基于现代科技水平的发展，产品可靠性要求越来越高，无法在短时间对产品进行寿命评估和可靠性判定，加速寿命试验的发展为这一问题提供了较好的解决方法。加速寿命试验已经在航空、航天、机械、电子领域开展了一系列的研究和应用。由于元器件和材料级产品机构简单，失效机理明确，进行ALT(加速寿命试验)具有很好的效果，但是对于系统整机级产品，由许多的元器件、材料组成，敏感应力不一致，失效机理复杂，无法采用合适的加速模型，即使采用了统计精度也不是十分理想。而且加速模型是否能真实反应寿命在环境应力下的变化关系，尚无法做出确定的统计验证。而基于失效物理的器件级、材料级的贮存试验具有一定的理论基础和应用成果，具备了研究设备级试验的基础。

目前确定加速模型的方法主要有两种，一，从失效机理出来，通过对材料微观分析研究不同应力下的加速模型，二，主要利用经典加速模型直接应用于所研究的产品，如阿伦尼斯、艾林等等模型。这两种方法所建立的加速模型是否能确切的反应寿命特征在环境应力作用下的变化规律，并为经严格的验证。对于电子整机，利用上述方法更不可能建立加速模型。

对于无法确定加速模型、而且产品属于极小子样的电子整机加速寿命试验，此时，Bayes思想就非常适合处理这类问题。Bayes统计推断在利用当前试验数据的同时，充分利用其不多的历史试验数据、相关标准如(G.JB299)和专家信息。而且可以对表示先验分布的某概率分布进行充分研究，确保准确。本发明对整机的先验分布研究将采用多变量Dirichlet分布，由于整机采用多变量、多水平应力，其各段失效率变化可以很好的满足Dirichlet分布上的尺度参数特点。Dirichlet分布在不同的应力水平上有不同尺度参数，但是具有相同的形状参数，还有一点，利用这种顺序Dirichlet分布利用先验信息进行数学处理会较为方便。其分布如式(1)，利用先验的信息可以确定分布的参数，进而通过对试验过程和特点的分析，确定似然函数，最后进行后验推断，得到后验的寿命和可靠性特征。相关定义和实施过程将在第三部分展开。

Π{u|β,α‾}=Πi=1m+1(ui-1-ui)βαi-1D(β,α‾)---(1)]]>

(三)发明内容

(1)目的：本发明的目的是提供一种电子整机加速寿命评估方法，它解决了缺少加速模型和整机样本较少的实际问题，是一种系统级的加速评估方法，对推进产品的评估周期和准确性提供可靠帮助。

(2)技术方案：本发明一种加速状态下系统整机的寿命和可靠性评估方法，发明原理介绍如下：