[发明专利]用于力感测导管的校正系统

权利要求书

1.一种设备，包括：

滚动元件，所述滚动元件靠在表面上；

力感测装置，所述力感测装置连接到所述表面，并被构造为通过压在所述滚动元件上以将所述滚动元件保持不动的力感测探针得到指示沿垂直于所述表面方向施加的力的第一测量值；以及

校正处理器，所述校正处理器被构造为采集来自所述感测装置的第一测量值、采集指示来自所述力感测探针的力的第二测量值，以及基于所述第一和第二测量值校正所述力感测探针。

2.根据权利要求1所述的设备，其中所述表面为平面。

3.根据权利要求1所述的设备，其中所述滚动元件包括硅橡胶球。

4.根据权利要求1所述的设备，其中所述力感测装置包括测力传感器。

5.根据权利要求1所述的设备，其中所述处理器被构造为通过采集来自所述力感测装置的指示所述力的第一信号而得到所述第一测量值。

6.根据权利要求1所述的设备，其中所述探针包括柔性插入管、远端头、以及将所述柔性插入管的远端连到所述远端头的接头。

7.根据权利要求6所述的设备，其中将所述力感测探针压在所述滚动元件上导致所述远端头变形。

8.根据权利要求7所述的设备，其中所述处理器被构造为通过读取来自所述探针的一个或多个指示所述变形的信号而得到所述第二测量值。

9.根据权利要求7所述的设备，其中所述变形包括与所述远端的对称轴平行的所述远端头轴向位移。

10.根据权利要求7所述的设备，其中所述变形包括所述远端头相对于所述远端的对称轴的角偏转。

11.根据权利要求1所述的设备，其中校正所述探针包括计算一个或多个校正系数，所述校正系数用于评估作为所述第一和第二测量值的函数的力。

12.根据权利要求11所述的设备，其中所述处理器被构造成将所述校正系数保存在连接到所述探针上的存储器中。

13.根据权利要求12所述的设备，其中所述存储器包括电可擦除可编程只读存储器(E²PROM)。

14.一种方法，包括：

将滚动元件安置在与力感测装置连接的表面上；

将力感测探针压在所述滚动元件上，以使所述滚动元件在所述表面上保持不动，同时通过所述滚动元件沿垂直于所述表面的方向将力施加到所述力感测装置上；

与此同时，对所述力感测探针施压，从而使用所述力感测装置和所述探针分别得到所述力的第一和第二测量值；以及

基于所述第一和第二测量值校正所述力感测探针。

15.根据权利要求14所述的方法，其中所述表面为平面。

16.根据权利要求14所述的方法，其中所述滚动元件包括硅橡胶球。

17.根据权利要求14所述的方法，其中所述力感测装置包括测力传感器。

18.根据权利要求14所述的方法，其中得到所述第一测量值包括采集来自所述力感测装置的指示所述施加力的第一信号。

19.根据权利要求14所述的方法，其中所述探针包括柔性插入管、远端头、以及将所述柔性插入管的远端连接到所述远端头的接头。

20.根据权利要求19所述的方法，其中将所述力感测探针压在所述滚动元件上导致所述远端头变形。

21.根据权利要求20所述的方法，其中得到所述第二测量值包括读取来自所述探针的一个或多个指示所述变形的信号。

22.根据权利要求20所述的方法，其中所述变形包括与所述远端的对称轴平行的所述远端头轴向位移。

23.根据权利要求20所述的方法，其中所述变形包括所述远端头相对于所述远端的对称轴的角偏转。

24.根据权利要求14所述的方法，其中校正所述探针包括计算一个或多个校正系数，所述校正系数用于评估作为所述第一和第二测量值的函数的力。

25.根据权利要求24所述的方法，该方法还包括将所述校正系数保存在连接到所述探针的存储器内。

26.根据权利要求25所述的方法，其中所述存储器包括电可擦除可编程只读存储器(E²PROM)。