[发明专利]用于一维相扫阵列天线的误差累积移位加权的配相方法

权利要求书

1.一种用于一维相扫阵列天线的误差累积移位加权的配相方法，天线型式是一维相扫阵列天线，其特征在于步骤如下：

步骤1：采集各天线单元自身的固有相位值P_S(i)，i＝1，2...n；其中：i为天线的单元数；

步骤2：计算波束指向各单元的理论相位值为P_G(i)＝k(i-1)dsinθ，其中：i＝1，2...n；k＝2π/λ，λ工作频率的波长；d单元间距；θ波束扫描指向角

步骤3：将固有相位值与理论相位值做差：P_MG(i)＝P_G(i)-P_S(i)；

步骤4：得到各单元的配相码为M(i)＝int(p(i)/S)，其中：S＝360÷2^b为最小相移量化值，b为数字移相器的位数；

p(i)＝mod{[P_MG(i)+a×P_E(i-1)]，360}

PE(i-1)=0i=1PMG(i-1)-PM(i-1)i≠1]]>

P_M(i-1)＝M(i-1)×S

a：为单元累积误差加权系数，取值为0～1；

int：四舍五入取整运算符，

mod：求余运算符。

2.根据权利要求1所述的用于一维相扫阵列天线的误差累积移位加权的配相方法，其特征在于各单元的配相码按如下步骤确定：

步骤a：把第1单元的配相目标值归为0，其余单元的配相目标值用下面的方法归算：

归算后的P_MG(i)＝归算前的P_MG(i)-归算前的P_MG(1)，i＝1，2...n；

步骤b：那么M(1)＝0

步骤c：然后根据M(i)＝int(p(i)/S)和M(1)＝0依次确定其余的M(i)。

3.根据权利要求1所述的用于一维相扫阵列天线的误差累积移位加权的配相方法，其特征在于：所述a＝0时，配相方法退化为四舍五入法。