[发明专利]非接触式卡的认证方法和装置有效
申请号: | 201110280079.4 | 申请日: | 2011-09-20 |
公开(公告)号: | CN102346862A | 公开(公告)日: | 2012-02-08 |
发明(设计)人: | 陆舟;于华章 | 申请(专利权)人: | 飞天诚信科技股份有限公司 |
主分类号: | G06K17/00 | 分类号: | G06K17/00;H04L9/32 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 接触 认证 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及信息安全领域,尤其涉及一种非接触式卡的认证方法和装置。
背景技术
非接触式卡又称射频卡,由IC芯片和感应天线组成。当非接触式卡在一定距离范围内靠近读卡器时,读卡器通过射频识别技术自动识别该非接触式卡后,可以通过无线电波对该非接触式卡进行读写操作。
现有技术中,一般的操作方法就是把卡放入读卡器射频场,然后读卡器寻卡成功后,进行认证操作,成功后等待响应的卡读写操作。
在实现上述检测非接触式卡的过程中,发明人发现现有技术中至少存在如下问题:由于认证通过后,非接触式读卡器需要等待上位机发送的操作指令后进行相应的操作,无法对卡片是否在射频场进行实时检测。
发明内容
本发明的实施例提供一种检测非接触式卡的方法和装置,能够对卡片是否在射频场进行实时检测。
一方面,提供一种非接触式卡的认证方法,包括:①、根据预先设置的周期进行寻卡操作,判断是否接收到返回信息;如果接收到返回信息,执行③;如果未接收到返回信息,执行②;②、向上位机发送寻卡失败相应的响应,并删除本地存储的密钥后返回①;③、根据所述返回信息获取所述非接触式卡的卡号信息;④、根据所述非接触式卡的卡号信息,判断是否接收到所述上位机向所述非接触式卡发送的操作指令;如果接收到所述操作指令,执行⑤;如果未接收到所述操作指令,执行⑥;⑤、判断所述操作指令的类型;如果所述操作指令的类型为存储密钥类,执行⑦;如果所述操作指令的类型为卡操作类,执行⑧;⑥、向所述上位机发送卡在场相应的响应后返回①;⑦、根据所述操作指令向本地写入所述非接触式卡的密钥后返回⑥;⑧、判断本地是否存储所述非接触式卡相应的密钥;如果本地存储所述非接触式卡相应的密钥,执行⑨;如果本地未存储所述非接触式卡相应的密钥,执行②;⑨、通过所述密钥对所述非接触式卡进行认证,得到认证结果;如果所述认证结果为认证通过,执行⑩;如果所述认证结果为认证未通过,执行②;⑩、根据所述操作指令对所述非接触式卡进行相应的操作,并将该操作的数据向上位机发送后执行⑥。
另一方面,提供了一种非接触式卡的认证装置,包括:
寻卡模块,用于根据预先设置的周期进行寻卡操作,判断是否接收到返回信息;
如果接收到返回信息,执行卡号获取模块;如果未接收到返回信息,执行第一响应模块;
第一响应模块,用于向上位机发送寻卡失败相应的响应,并删除本地存储的密钥后返回寻卡模块;
卡号获取模块,用于根据所述返回信息获取所述非接触式卡的卡号信息;
指令接收模块,用于根据所述非接触式卡的卡号信息,判断是否接收到所述上位机向所述非接触式卡发送的操作指令;
如果接收到所述操作指令,执行指令判断模块;如果未接收到所述操作指令,执行第二响应模块;
指令判断模块,用于判断所述操作指令的类型;
如果所述操作指令的类型为存储密钥类,执行写入密钥模块;如果所述操作指令的类型为卡操作类,执行密钥判断模块;
第二响应模块,用于向所述上位机发送卡在场相应的响应后返回寻卡模块;
写入密钥模块,用于根据所述操作指令向本地写入所述非接触式卡的密钥后返回第二响应模块;
密钥判断模块,用于判断本地是否存储所述非接触式卡相应的密钥;
如果本地存储所述非接触式卡相应的密钥,执行认证模块;如果本地未存储所述非接触式卡相应的密钥,执行第一响应模块;
认证模块,用于通过所述密钥对所述非接触式卡进行认证,得到认证结果;
如果所述认证结果为认证通过,执行卡操作模块;如果所述认证结果为认证未通过,执行第一响应模块;
卡操作模块,用于根据所述操作指令对所述非接触式卡进行相应的操作,并将该操作的数据向上位机发送后执行第二响应模块。
本发明实施例提供的非接触式卡的认证方法和装置,根据预先设置的周期进行寻卡操作,并在接收到返回信息时,获取该非接触式卡的卡号信息;当接收到上位机向非接触式卡发送的操作指令时,根据该操作指令执行相应的操作,从而实现非接触式卡的认证。本发明实施例提供的技术方案,由于可以根据预先设置的周期进行寻卡并认证,因此能够对卡片是否在射频场进行实时检测,解决了现有技术中由于认证通过后,非接触式读卡器需要等待上位机发送的操作指令后进行相应的操作,无法对卡片是否在射频场进行实时检测的问题。
附图说明
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