[发明专利]用于冶金容器浇口的自动位置识别的方法和测量装置无效
申请号: | 201110278632.0 | 申请日: | 2011-07-15 |
公开(公告)号: | CN102445150A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
发明(设计)人: | H·埃布纳;M·许格尔 | 申请(专利权)人: | 西门子VAI金属科技有限责任公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 汲长志;杨国治 |
地址: | 奥地*** | 国省代码: | 奥地利;AT |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 冶金 容器 浇口 自动 位置 识别 方法 测量 装置 | ||
1.用于借助带有非接触式工作的测量格栅(3)的测量装置(1)自动识别冶金容器尤其是转炉、盛钢桶(9)或中间包的浇口(10)的位置的方法,该方法具有以下方法步骤:
a)基本上垂直地将所述测量装置(1)定位(12a)在浇口(10)的下方,从而使所述浇口(10)既不接触测量装置(1),也不截断测量格栅(3);
b)基本上垂直向上(Z)地移动(12b)所述测量装置(1)到第一位置;
c)通过分析用于所述测量装置(1)的局部离散的测量格栅(3)的测量数据,非接触地检测浇口(10)的实际位置,其中所述测量数据至少包括对应于测量格栅第一横向(x)的多个x-测量值以及对应于测量格栅第二横向(y)的多个y-测量值,并且一个测量值恰好对应于测量格栅(3)的一条测量射线(5),从而借助x-测量值在第一位置上在所述浇口(10)的第一横向(X)上分辨浇口(10)的实际位置,并借助y-测量值在第一位置上在所述浇口(10)的第二横向(Y)上分辨浇口(10)实际位置,所述浇口(10)的第二横向垂直于该浇口的第一横向(X)。
2.用于借助带有非接触式工作的测量帘幕(8)的测量装置(1)自动识别冶金容器尤其是转炉、盛钢桶(9)或中间包的浇口(10)的位置的方法,该方法具有以下方法步骤:
a)基本上垂直地将所述测量装置(1)定位(12a)在浇口(10)下方,从而使所述浇口(10)既不接触测量装置(1),也不截断测量帘幕(8);
b)基本上垂直向上(Z)地移动(12b)所述测量装置(1)到第一位置;
c)通过分析用于平坦的、局部离散的测量帘幕(8)的测量数据,非接触地检测浇口(10)的实际位置的第一分量,其中所述测量数据包括对应于测量帘幕(8)的第一横向(x)的多个测量值,并且一个测量值恰好对应于所述测量帘幕(8)的一条测量射线(5),从而借助所述测量值在第一位置上在浇口(10)的第一横向(X)上分辨浇口(10)的实际位置;
d)在所述浇口(10)的纵轴线(Z)的法向平面内将所述测量装置(1)转动优选为90°的角度(α);
e)通过分析用于平坦的、局部离散的测量帘幕(8)的测量数据,非接触地检测浇口(10)的实际位置的第二分量,其中所述测量数据包括对应于测量帘幕(8)的横向(x)的多个测量值,并且一个测量值恰好对应于测量帘幕(8)的一条测量射线(5),从而借助所述测量值在第一位置上在所述浇口(10)的第二横向(Y)上分辨浇口(10)的实际位置。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述测量装置(1)在步骤c后基本上垂直向上移动一个行程(Δ)到第二位置并且随后再次执行步骤c,其中在第二位置上检测浇口(10)的位置。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述测量装置(1)的定位和移动由多轴机械手完成。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述测量装置(1)在移动过程中连续地检测浇口(10)的实际位置。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述测量装置(10)在步骤c之前停止。
7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,将在步骤c中检测到的浇口(10)的实际位置传送给调节机构,所述调节机构计算浇口(10)的理论位置与实际位置的调整偏差并且借助算法求出调节参量,由此使受到所述调节参量作用的多功能机械手的实际位置更靠近理论位置来定位。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法,其特征在于,所述测量射线(5)是连续的或中断的光线,尤其是在红外线、可见光或紫外光的区域中的光线。
9.具有非接触式工作的测量格栅(3)的、用于自动识别冶金容器尤其是转炉、盛钢桶(9)或中间包的浇口(10)的位置的测量装置(1),其特征在于,所述测量装置(1)设计成可移动的并且具有局部离散的测量格栅(3),所述测量格栅(3)由两组(15,16)测量射线(5)构成,其中第一组(15)测量射线设置在测量装置(1)的第一横向(x)上,并且第二组(16)测量射线设置在测量装置(1)的第二横向(y)上,并且每条测量射线(5)对应于一个用于产生以及检测测量射线(5)的测量射线产生检测机构。
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