[发明专利]版图验证规则文件与测试向量的自动比对方法

说明书

技术领域

版图验证规则文件与测试向量的自动比对方法是集成电路辅助设计软件工具中版图验证(DRC)中的一种检查方法。本发明属于集成电路辅助设计软件工具中版图验证领域。

背景技术

集成电路(IC)设计的后期包括版图设计和版图验证，而这两项功能是EDA工具中的重要环节；版图验证是根据版图设计规则、电学规则和原始输入的逻辑关系对版图设计进行正确性的验证并且可以通过对电路和参数的提取，产生电路模拟的输入文件进行后模拟，以进一步检查电学性能。

版图验证规则文件是用来验证版图设计是否符合工艺加工约束条件的重要文件，这个文件的正确与否直接关系着芯片加工成败。为了验证该规则文件的正确性，需要构造很多测试向量，然后分析测试向量的计算结果是否与版图验证规则文件一致。这里测试向量指的一般是一组版图图形，用来反映是否违反设计规则的测试用例。

为了分析测试向量与版图验证规则文件是否一致，传统的方法是：针对每个测试向量，运行版图验证工具得到计算结果，然后人工比对每个计算结果是否符合预期。

人工比对测试用例的方法有两个显著缺点，首先，随着工艺技术的不断发展，设计规则的数目急剧膨胀，人工比对测试向量的方法工作量很大，效率很低。据统计，当集成电路工艺进入纳米尺寸后，一套工艺的设计规则数目往往超过1000个，假设每个设计规则需要构造6个以上的测试向量，总计一套规则的测试向量超过6000个，要人工去一一比对结果是否正确需要花大量的时间。其次，人工比对构造向量难以保证测试的全面性。由于人在比对过程中难免会有小的疏忽与错误，会导致最终的测试向量或者设计规则文件隐含某些错误，最终导致芯片加工失败。

为了克服人工比对测试向量的缺陷，本发明提出了一种测试向量的自动比对方法，该方法由计算机程序自动检查版图验证规则文件与测试向量是否完全一致，可以在很短的时间内完成大量测试向量的比对，大大提高了开发效率，保证了规则文件的正确性。

发明内容

本发明提出了版图验证规则文件与测试向量的自动比对方法，主要内容如下：

1.存在性原则检查：针对构造测试向量的合法单元(good cell)，自动运行版图验证工具得到计算结果，并通过软件程序检查该good cell对应规则的报错结果个数是否为0，如果为0表明测试向量与验证规则文件符合存在性原则，如果为非0，表明测试向量与验证规则文件不符合存在性原则。针对构造测试向量的非法单元(bad cell)，自动运行版图验证工具得到计算结果，并检查该bad cell对应规则的报错结果个数是否为不为0，如果不为0表明测试向量与验证规则文件符合存在性原则，如果为0，表明测试向量与验证规则文件不符合存在性原则。

例如，一个典型的金属宽度规则描述的是：

ME1_a：Min.Width of ME1 is 0.6.

ME1_b：Min.Spacing of ME1 is 0.5.

它们的具体含义是：金属ME1的最小宽度是0.6，金属ME1的最小间距是0.5。针对以上2个规则，测试向量会分别生成如下的单元：

good_ME1_a：该测试向量包含多个图形，每个图形宽度都大于等于0.6。

bad_ME1_a：该测试向量包含多个图形，每个图形宽度都小于0.6。

good_ME1_b：该测试向量包含多个图形，每个图形间距都大于等于0.6。

bad_ME1_b：该测试向量包含多个图形，每个图形间距都小于0.6。

当测试向量构造完毕后，本方法首先自动针对good_ME1_a，bad_ME1_a，good_ME1_b，bad_ME1_b等4个单元运行版图验证检查工具，得到4组结果，分别是：result_good_ME1_a.db，result_bad_ME1_a.db，result_good_ME1_b.db，result_bad_ME1_b.db。其次，该方法针对上述4组计算结果，分别通过软件程序自动检查每个good cell对应的rule计算结果是否为0，检查每个bad cell对应的rule计算结果是否为非0，以此结果来判断存在性是否符合要求。

例如，针对上述用例，假设result_good_ME1_a.db的结果如下：

ME1_a      ErrorNum      0

ME1_b      ErrorNum      5