[发明专利]通信设备测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种对通讯设备的各项指标进行自动测试的测试装置。

背景技术

对于一个双工通讯设备，例如双工滤波器，在投入到基站使用前一定要对其各项指标进行测试，比如S-Parameter（S参数）、VSWR（驻波比）、IMD（互调失真）、IIP3（输入三阶交调）、Noise Figure（噪声系数）等，当这些指标全部合格以后，产品才可以出货。

S参数就是建立在入射波、反射波关系基础上的网络参数，适于微波电路分析，以器件端口的反射信号以及从该端口传向另一端口的信号来描述电路网络。

驻波比（VSWR，Voltage Standing Wave Ratio）是射频的一个重要参数。所谓驻波是由于传输途径中的阻抗不匹配导致的，当传输途径中阻抗出现不匹配时，会有一部分信号功率被反射回来，该反射信号同发射信号叠加形成驻波。驻波比较大意味着信号反射比较厉害，也就是说传输途径上的匹配效果比较差。

IM（Inter Modulation）是正常输入被测件信号的谐波分量交调的产物，它们常常会对有用信号造成干扰。IMD（Inter Modulation Distortion）是指干扰信号相对于有用信号被被测件抑制的幅度，单位常用dB表示。

IP3（Input Third-order Intercept Point）三阶交调点是非线性器件（例如线性放大器，混相器以及接收器）的一种测量方式。它是一次谐波以及IM3的线性交点，反映了器件的线性度，也就是三次谐波对主波的影响程度。IP3越大，系统的线性度越好。IIP3（Input Third-order Intercept Point）是指输入端的三阶交调，双工滤波器一般用这个指标检测其性能。

噪声系数（Noise Figure）常被用来衡量放大器本身的噪声水平，由于放大器本身就有噪声，输出端的信噪比和输入端信噪比是不一样的。

在实际生产测试过程中，被测件可能有几个、十几个端口都需要测试相同的技术指标，比如S参数。这样以来，测试人员就需要把网络分析仪的两根RF电缆先后分别连接到那十几个被测件的端口上。在生产线大规模量产时，这样的方法会耗费很多的时间而且容易产生错误。同理，在进行其它技术指标的测试过程中，也会产生同样的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种测试快捷、可靠性好的通信设备测试装置，以在测试过程中降低人力成本、时间成本、测试设备成本。

为达到上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种通信设备测试装置，包括

计算机，所述的计算机上运行测试控制软件用于发出端口控制信号来控制通信设备的测试；

高低电平控制器，所述的高低电平控制器具有输入端和输出端，其输入端与所述的计算机相连接并接收所述的端口控制信号，所述的高低电平控制器根据所述的端口控制信号产生相应的电平信号；

待测端口选择核心模块，所述的待测端口选择核心模块与所述的高低电平控制器相连接，其具有若干个测试输入端口及若干个测试输出端口，每个所述的测试输入端口分别与每个所述的测试输出端口相连接，当对被测件进行测试时，所述的测试输入端口与所述的被测件的各管脚相连接；所述的待测端口选择核心模块接收所述的端口控制信号并根据其选通相应的测试输入端口；

测试模块，所述的测试模块包括对所述的被测件的各参数进行测试的测试器件；

可变微波组件模块，所述的可变微波组件模块包括多种与所述的测试器件相配合的微波器件。

优选的，所述的待测端口选择核心模块还具有两个与所述的测试输出端口相连接的旁路扩展端口，当所述的待测端口需扩展时，多级所述的待测端口选择核心模块相连接，下一级所述的待测端口选择核心模块的测试输出端口与上一级所述的待测端口选择核心模块的旁路扩展端口相连接。

优选的，所述的待测端口选择核心模块为用于功率较高情况下进行测试的高功率核心模块或用于功率较低情况下进行测试的低功率核心模块。

优选的，所述的高低电平控制器为通用接口总线高低电平控制器或通用串行总线高低电平控制器。

优选的，所述的测试模块还包括为各测试器件提供所述的测试器件接入或不接入测试的选件器件，各所述的选件器件整合为可变选件模块。

优选的，所述的测试器件包括用于测试S参数的网络分析仪、用于测试驻波比的驻波比测试器、用于测试三阶交调点的三阶交调点测试器、用于测试射频通路功率的功率测试器、用于测试噪声系数的噪声仪、频谱分析仪中的任意一种或几种。