[发明专利]测试装置

说明书

技术领域

本发明是有关于一种测试装置，且特别是有关于一种电磁波测试装置。

背景技术

现阶段由于电磁辐射环境对大多数电子、电气设备皆会产生一定程度的影响，轻则使设备性能、功能暂时降低或丧失，重则造成设备永久损坏。所以遥测(Remote Sensing，RS)检验的目的就是为了检验电子、电气设备在遭受这类扰动影响时的性能。

在进行RS检验前，为了确保所提高的电磁环境是否均匀，需要对场地进行UFA(Uniform Field Area)校验，即为场的均匀性校验。场的均匀性校验是通过天线发射电磁波，场探头放置在所需求平面上固定的位置上来接受电磁波。

目前场探头位置的确定，采用的是落地式场探头支架来固定场探头的位置。详细而言，场探头支架置放于0.8公尺高的测试桌面上，使用支架上的夹子来固定场探头，并透过挪动落地式支架和支架上的夹子，来将场探头放置在空间中不同的位置。

然而，进行场探头位置确定的时候需要花费较长时间量测来确定场探头的位置，而且人员量测操作容易产生误差。在UFA校验过程中，需要更换场探头位置时，要打开实验室让测试人员进入实验室手动更换位置，容易将外界杂讯带入实验室内。场探头的信号是通过光纤传送，手动搬动位置容易将光纤拉断。落地式场探头支架底部会有一定的高度基座来支撑支架，如此一来，不能将场探头放在距离地面0.8公尺的位置上。

由此可见，上述现有的方式，显然仍存在不便与缺陷，而有待加以进一步改进。为了解决上述问题，相关领域莫不费尽心思来谋求解决的道，但长久以来一直未见适用的方式被发展完成。因此，如何能避免确定场探头位置需花费较长时间量测且藉由人员量测易产生误差的问题、进入实验室手动更换场探头位置易将外界杂讯带入实验室内的问题、手动搬动落地式场探头支架容易将光纤拉断的问题以及不能将场探头放在距离地面0.8公尺的位置的问题，实属当前重要研发课题的一，亦成为当前相关领域亟需改进的目标。

发明内容

本发明内容的一目的是在提供一种测试装置，藉以改善确定场探头位置需花费较长时间量测且藉由人员量测易产生误差的问题、进入实验室手动更换场探头位置易将外界杂讯带入实验室内的问题、手动搬动落地式场探头支架容易将光纤拉断的问题以及不能将场探头放在距离地面0.8公尺的位置的问题。

为达上述目的，本发明内容的一技术样态是关于一种测试装置。测试装置包含至少一横梁、移动模组、基座、控制模组以及场探头。横梁架设于电波暗室内。基座透过线材耦接于移动模组，其中移动模组用以放出线材与收起线材，以使基座透过线材来进行上升与下降。控制模组配置于移动模组上，用以接收命令信号来控制移动模组于横梁上的移动，并控制移动模组收放线材。场探头配置于基座上，并用以测试电磁波，其中场探头藉由基座的升降以进行升降，并藉由移动模组的移动而进行移动，使得场探头测试不同位置的电磁波。

根据本发明一实施例，移动模组的外型为对称形状。

根据本发明另一实施例，移动模组的一中心点配置于场的校验平面上，线材耦接于移动模组的中心点，藉使场探头于场的校验平面上移动。

根据本发明再一实施例，横梁为至少二横梁，而移动模组的外型为长方形，移动模组的两端分别架设于其中之一横梁上，而使移动模组跨设于前述些横梁之间。

根据本发明又一实施例，控制模组用以接收第一命令信号来控制移动模组于横梁上的移动，并用以接收第二命令信号来控制移动模组收放线材。

根据本发明另再一实施例，测试装置更包含位置控制器。位置控制器通信耦接于控制模组，并用以产生第一命令信号与第二命令信号。

根据本发明另又一实施例，位置控制器藉由第一组光纤线以及第二组光纤线分别通信耦接于控制模组，其中第一命令信号透过第一组光纤线传送至控制模组，而第二命令信号透过第二组光纤线传送至控制模组。

根据本发明再另一实施例，线材包含一钢丝。

因此，根据本发明的技术内容，本发明实施例藉由提供一种测试装置，藉以改善确定场探头位置需花费较长时间量测且藉由人员量测易产生误差的问题、进入实验室手动更换场探头位置易将外界杂讯带入实验室内的问题、手动搬动落地式场探头支架容易将光纤拉断的问题以及不能将场探头放在距离地面0.8公尺的位置的问题。

附图说明

为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附图式的说明如下：

图1是绘示依照现有技术的一种电波暗室的UFA校验仪器配置示意图。

图2是绘示依照本发明一实施例的一种测试装置的方块示意图。