[发明专利]一种纳米结构的氢氧化钴薄膜的制备方法无效

专利信息
申请号: 201110185736.7 申请日: 2011-07-04
公开(公告)号: CN102344254A 公开(公告)日: 2012-02-08
发明(设计)人: 聂祚仁;李群艳;解林艳;韦奇;王志宏 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: C03C17/22 分类号: C03C17/22
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 刘萍
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 纳米 结构 氢氧化 薄膜 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种纳米结构氢氧化钴薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)基片预处理:将基片依次用硝酸、乙醇和蒸馏水超声洗涤,室温自然干燥,待用;

2)将钴盐溶于水中配成钴离子浓度为0.01~0.10mol/L的钴盐溶液;

3)将氢氟酸加入步骤2)中配制的钴盐溶液中得到混合溶液,其中,F与Co(II)的摩尔比为3∶1~9∶1;

4)在步骤3)中得到的混合溶液中滴加氨水调节pH值为8.50~9.30;

5)将步骤1)中预处理后的基片垂直放入步骤4)中配制的溶液后,于50~80℃的水浴中搅拌反应2~4小时得到覆有薄膜的基片;

6)取出覆有薄膜的基片超声洗涤、室温自然干燥,得到Co(OH)2薄膜。

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