[发明专利]一种岩石的细观各向异性测试方法无效
申请号: | 201110166577.6 | 申请日: | 2011-06-21 |
公开(公告)号: | CN102353719A | 公开(公告)日: | 2012-02-15 |
发明(设计)人: | 徐进;徐慧宁;刘建锋;邓建辉;李忠洪 | 申请(专利权)人: | 四川大学 |
主分类号: | G01N29/07 | 分类号: | G01N29/07 |
代理公司: | 成都科海专利事务有限责任公司 51202 | 代理人: | 黄幼陵 |
地址: | 610207 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 岩石 各向异性 测试 方法 | ||
技术领域
本发明属于岩石性能测试领域,特别涉及一种岩石的细观各向异性测试方法。
背景技术
岩石是一种天然材料,它具有非均匀性、不连续性与各向异性等特征。其中各向异性是指由于岩石的结构或构造存在定向性而表现出来的特征,这一特征导致岩石的力学性能具有各向异性特征,也就是说导致岩石的强度、变形性能、渗透特性等在各个方向具有差别。
岩石的各向异性特征对其力学性能的影响已经被人们充分认识,并开展了非常广泛的研究,但研究较多地集中在岩体尺度的宏观结构面及其各向异性方面,更多的是针对工程实际问题,也有人对晶体内部尺度的微观各向异性进行了研究。关于岩石细观结构面的定义、细观各向异性,一般没有将其从岩体的宏观各向异性研究中区分开来进行单独研究,更没有人对其进行专门的系统研究。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种岩石的细观各向异性测试方法,以解决岩石细观各向异性程度的定量测试问题,为岩石的使用提供依据。
本发明所述岩石的细观各向异性,是由于岩石的细观结构面所引起的岩石力学性能在各方向具有的差别。本发明的发明人研究发现:岩石的细观结构面存在于岩块的细观尺度,有别于岩体的宏观尺度和矿物晶体内部微观尺度,它包含在可以制成手持标本或试验室标准试件的岩块中,并主要是岩石中由于矿物的定向排列而形成的原生结构面,比如岩浆岩中的流纹构造(见图3)、原生片麻构造、带状构造所引起的矿物定向排列,沉积岩中的细层层理构造等引起的矿物定向排列(见4、见图5),变质岩中的片状构造、千枚状构造、片麻状构造和板状构造等矿物定向排列所形成的结构面(见图6、图7)。
本发明中,将岩石块体中由于矿物的定向排列所形成的细微结构面定义为岩石的细观结构面。岩石的细观结构面具有以下两个特征:特征之一是所述细观结构面是岩石中由于矿物或某些其他物质的定向排列而形成的结构面;特征之二是包含所述细观结构面的岩石能够被制备成用于试验室测试的,完整的标准试件和手持标本。上述两个特征将作为识别与鉴定岩石的细观结构面的准则。
测试研究表明,超声波在岩石中传播的时候,在平行于岩石细观结构面方向速度快,而在垂直于岩石细观结构面方向的速度慢,二者间差别的大小取决于岩石细观结构面的发育程度。因此,可将这两个方向的超声波纵波波速的比值Cma作为衡量岩石细观各向异性程度的定量指标。
本发明所述岩石的细观各向异性测试方法,步骤如下:
(1)将被测岩石制备成两组试件,第一组试件的轴线平行于被测岩石的细观结构面,用于测试平行于被测岩石细观结构面方向的超声波纵波波速Vpp;第二组试件的轴线垂直于被测岩石的细观结构面,用于测试垂直于被测岩石细观结构面方向的超声波纵波波速Vpc;
(2)采用脉冲超声直透法测试第一组试件,得到平行于被测岩石细观结构面方向的超声波纵波波速Vpp,采用脉冲超声直透法测试第二组试件,得到垂直于被测岩石细观结构面方向的超声波纵波波速Vpc;
(3)根据步骤(2)的测试结果,按Cma=Vpc/Vpp计算被测岩石的细观各向异性系数,式中:Cma为被测岩石的细观各向异性系数,Vpc为垂直于被测岩石细观结构面方向的超声波纵波波速,Vpp为平行于被测岩石细观结构面方向的超声波纵波波速。
测试研究表明,0<Cma≤1。对于一种岩石,若Cma=1,表明该岩石不具有细观各向异性特征,若0<Cma<1,则表明该岩石具有细观各向异性特征,Cma越小,该岩石的细观各向异性特征越显著,岩石在测量方向上的力学性能差别越大。
本发明具有以下有益效果:
1、本发明所述方法开创了对岩石细观各向异性的定量测试,为判断岩石是否存在细观各向异性及细观各向异性的程度提供了技术支持,为岩石的使用提供了依据。
2、本发明所述岩石的细观各向异性测试方法操作简单,计算工作量小,便于岩石细观各向异性测试的推广。
附图说明
图1是轴线平行于被测砂板岩(变质岩)的细观结构面的标准试件;
图2是轴线垂直于被测砂板岩(变质岩)的细观结构面的标准试件;
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