[发明专利]电路保护装置

说明书

本发明揭示一种电路保护装置，与测试设备和待测设备相连，所述电路保护装置包括：第一接口，与所述待测设备电性连接，取得第一电平状态；保护电路，其一端与所述第一接口电性连接，获取所述第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断；第二接口，其一端与所述保护电路另一端电性连接，另一端与所述测试设备电性连接。利用本发明的电路保护装置，由于通过第一接口获取所述待测设备的第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断，从而可以达到对测试设备的保护。

【技术领域】

本发明涉及一种电路保护装置，特别是涉及一种测试设备的电路保护装置。

【背景技术】

随着科技的发展进步，电子产品越来越广泛的应用于家庭和办公场合，尤其是个人台式电脑和笔记本电脑，更是成为人们生活中必不可少的工具。

因此，需要大量生产该类电子产品。在工厂需要出货前，都需要对其性能进行测试，以确保其品质。

请参阅图1，其绘示为现有技术电子产品的测试结构图。目前的测试通常都是将测试设备100与待测设备200直接电性连接。

待测设备200以笔记本电脑的显示器为例，而测试设备100以笔记本电脑的主机为例。利用所述主机对所述显示器进行19V以下的电源测试的时候，将二者直接相连。

然而，采用上述方式进行测试的时候，由于测试设备100与待测设备200直接电性连接。如果待测设备200本身的电路短路，则在测试设备100供电后，会使得测试设备100短路而不能正常工作甚至烧毁。

有鉴于此，实有必要开发一种电路保护装置，以解决上述问题。

【发明内容】

因此，本发明的目的是提供一种电路保护装置，可以保证在测试设备和待测设备电性连接的安全性。

为了达到上述目的，本发明提供的电路保护装置，与测试设备和待测设备相连，所述电路保护装置包括：

第一接口，与所述待测设备电性连接，取得第一电平状态；

保护电路，其一端与所述第一接口电性连接，获取所述第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断；

第二接口，其一端与所述保护电路另一端电性连接，另一端与所述测试设备电性连接。

可选的，所述第一电平状态为低电平，所述保护电路通路；第一电平状态为高电平，所述保护电路断路。

可选的，所述第二接口与所述测试设备电性连接，获取第二电平状态，所述第一、第二电平状态皆为低电平，所述保护电路通路；第一、第二电平状态其中之一为高电平，所述保护电路断路。

可选的，所述保护电路包括MOS管，所述MOS管导通，则所述保护电路通路。

可选的，所述电路保护装置还包括：监测电路，与所述第一接口电性连接，依据所述第一电平状态产生监测信号。

可选的，所述电路保护装置还包括：监测电路，与所述第二接口电性连接，依据所述第二电平状态产生监测信号。

可选的，所述电路保护装置还包括：警示单元，与所述监测电路连接，所述监测信号正常时，所述警示单元显示为第一状态；所述监测信号异常时，所述警示单元显示为第一状态。

可选的，所述警示单元为发光二极管，所述第一状态为不发光，所述第二状态为发光。

可选的，所述警示单元为扬声器，所述第一状态为不发声，所述第二状态为发声。