[发明专利]电场计测装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种电场计测装置，尤其涉及一种电子设备等的放射电磁波噪声测定、电波暗室等的电磁波测定设备评价、天线评价等电磁场计测领域的模拟光传送技术等中使用的电场计测装置。

背景技术

放射电磁波噪声等的测定在利用电波暗室等设备抑制了测定对象外的电磁波的测定环境下来进行。因此，通过暗室内的接收天线接收的信号被传送到相邻的测定室中，通过设置在其中的测定器来进行计测。

近年来，随着电子设备的高速化，电磁波噪声高频化，需要超过1GHz、根据情况需要超过10GHz的频率来进行评价。本申请人在专利文献1中提出了以下方法：利用具有马赫-曾德型(Mach-Zehnder)光波导的光调制器、光纤等的光纤传送装置，对通过接收天线接收的信号进行光传送。

并且，进行计测的装置发出的噪声电平为预想以外的电平的情况较多，且使用同一设备进行各种测定。因此，有些情况下，传送的信号电平的范围存在数十dB这样非常大的强度差。为了容易地判断这些输入电平的异常，在专利文献2中提出了新的电场计测装置的方案。

在专利文献1或2中，将天线检测出的电信号通过具有马赫-曾德型光波导的光调制器发送，因此需要将光调制器的DC偏压始终保持为适当的状态。因此使用供电线将DC偏压控制所需要的DC信号或DC电压导入到电磁波计测的区域内。

通过供电线提供直流电压等时，对电磁波的测定造成的影响与交流信号相比较少，但噪声易进入到供电线自身，测定区域外的噪声可能通过供电线被带入到测定区域内，造成测定精度、可靠性降低。

专利文献1：日本特开2010-127777号公报

专利文献2：日本特愿2010-36770号(2010年2月23日申请)

发明内容

本发明要解决的课题是，提供一种电场计测装置，其可解决上述课题，排除导入到测定区域内的供电线，提高在电波暗室等设备内的电场计测的精度及可靠性。

为解决上述课题，本发明具有以下技术特征。

(1)一种电场计测装置，对由设置在检测电磁波的区域内的被测定装置产生的电磁波的电场强度进行测定，其特征在于，在该区域内配置有：天线；放大该天线的输出信号的RF放大器；根据来自该RF放大器的输出信号进行光调制的、具有马赫-曾德型光波导的光强度调制器；以及向该光强度调制器施加DC偏压的DC偏压电路，在该区域外配置有：光源部；接受来自该光强度调制器的输出光的受光部；根据来自该受光部的输出信号的强度变化，控制提供到该光强度调制器的DC偏压的DC偏压控制部；以及根据该受光部的输出测定该电场强度的测定器，通过光纤将光波从该光源部导入到该光强度调制器，通过光纤将光波从该光强度调制器导出到该受光部，将与从该DC偏压控制部输出的DC偏压相关的电信号通过电气-光学转换器转换为光信号，通过光纤导入到该区域内，将该光信号通过配置在该区域内的光学-电气转换器转换为电信号，将该电信号输入到该DC偏压电路。

(2)根据上述(1)所述的电场计测装置，其特征在于，在该区域内配置有驱动该RF放大器和该DC偏压电路的DC电源。

(3)根据上述(1)所述的电场计测装置，其特征在于，共用连接该光强度调制器和该受光部的光纤、以及连接该电气-光学转换器和该光学-电气转换器的光纤，在该光纤的两端附近配置有波长合波分波元件。

(4)根据上述(1)所述的电场计测装置，其特征在于，在该区域内配置有：信号强度检测器，检测该天线的输出信号的强度是否超过了预定的电平；信号发生器，根据该信号强度检测器的检测结果，生成检测结果信号；以及合波器，使来自该RF放大器的输出信号、该检测结果信号及DC偏压合波，根据该合波器的输出信号，通过该光强度调制器进行光调制，并且，在该区域外配置有显示器，该显示器从该受光部的输出检测基于该检测结果信号的信号，显示其检测结果。

(5)根据上述(4)所述的电场计测装置，其特征在于，具有衰减器，该衰减器根据该信号强度检测器的结果，衰减该天线的输出信号的强度。

(6)根据上述(4)所述的电场计测装置，其特征在于，具有RF放大控制部，该RF放大控制部根据该信号强度检测器的结果，控制该RF放大器的输出。