[发明专利]图像显示装置和图像显示方法

说明书

技术领域

本发明涉及使用诸如有机EL(电致发光)面板之类的自发光显示面板的图像显示装置和图像显示方法，更具体地，涉及用于校正发光亮度的恶化的技术。

背景技术

已经开发了通过在显示面板上以矩阵形式排列的像素的自发光来显示图像的各种显示装置。例如，使用有机EL面板的显示装置已投入实际应用。有机EL面板是具有像素的高发光亮度且极好地以高精度显示高亮度图像的图像显示设备。

在诸如电视广播图像或运动图像之类的标准图像信号中，存在作为图像的水平长度和垂直长度之比的纵横比的各种标准。因此，必须采取措施以便以具有与图像信号不同的纵横比的显示装置来显示图像。

例如，当在不改变图像的纵横比的情况下，以具有不同于图像信号的原始纵横比的纵横比的显示装置使用输入图像信号来显示图像时，在图像的上下侧或左右侧提供黑色区域(即，非显示区域)以处理差异。

图12A到12C是图示图像的纵横比不同的例子的图。

图12A中示出16∶9的显示光栅(raster)尺寸的例子。图12B中示出4∶3的显示光栅尺寸的例子。图12C中示出电影范围尺寸的显示光栅尺寸(2.35∶1)的例子。

当显示面板具有16∶9的纵横比的尺寸时，在整个面板上显示图12A中的图像。当显示具有图12B中的4∶3的纵横比的图像时，在屏幕的左右侧出现非显示部分。当显示具有图12C中的电影范围尺寸的图像时，在屏幕的上下侧出现非显示部分。

在图12A到12C中，示出了三个代表性的光栅尺寸。实际上，存在大量的光栅尺寸。

当要显示的图像的光栅尺寸不同时，屏幕上的非显示部分的部分不同。

日本待审专利申请公开No.2007-240798公开了用于检测和校正显示装置的显示面板的像素的发光亮度的恶化的技术。在日本待审专利申请公开No.2007-240798中，在检测恶化以测量哑像素的平均发光亮度的处理中提供了哑像素。

发明内容

在具有自发光像素的诸如有机EL面板之类的显示面板中，像素的发光元件在显示图像时恶化。因此，当发光源元件长时间显示图像时，这种问题可能由于每个像素的发光亮度恶化这一事实而出现。由于每个像素的发光亮度的恶化特性对于每一原色而言是不同的，因此发光亮度的恶化导致改变色度。

因此，在日本待审专利申请公开No.2007-240798公开的技术中，通过使用哑像素检测整个屏幕上的发光亮度的恶化，并且通过检测到的发光亮度的恶化来校正面板的驱动信号，在显示面板上显示的图像中防止了由于发光元件的恶化所导致的亮度恶化。

如图12B或12C中所示，当在出现非显示部分的状态下连续显示图像时，在非显示部分中的显示像素中不出现发光亮度的恶化。据此，当均匀地校正整个屏幕时，发光亮度由于光栅尺寸的差异而在非显示部分中变得较强。因此，具有强亮度的部分和具有弱亮度的部分出现在一个显示屏幕内，从而导致不期望的结果。

在实际的图像显示装置中，难以确定具有某一光栅尺寸的图像显示多久的历史。此外，在现有技术中，考虑由于光栅尺寸的差异而出现的非显示部分，不进行像素的发光亮度的校正。

在图13A中，显示面板上叠加了范围X(其中显示具有图12A中的16∶9的尺寸的图像)、范围Y(其中显示具有图12B中的4∶3的尺寸的图像)和范围Z(其中显示具有图12C中的电影范围尺寸的图像)。

图13A中所示屏幕内的区域A、B、C和D是针对各个范围显示图像的区域和不显示图像的区域。在图12A到12C的各个尺寸的情况下，在中间区域A中显示具有任何光栅尺寸的图像。然而，依据显示尺寸，在其它区域B、C和D中显示或者不显示图像。假设中间区域A为像素的发光亮度更快速恶化的区域，相反，假设其它区域为像素的发光亮度更少恶化的区域。

在图13B中，针对图13A中所示的各个区域，示出发光亮度恶化的例子。水平轴表示时间，而垂直轴表示亮度。例如，假设中间区域A为亮度最快恶化的区域，并假设四个拐角区域D为亮度最少恶化的区域。假设区域B和C为亮度恶化得没有区域A快但比区域D更快的区域。

在图13A和13B的例子中，分别用适当的时间显示具有图12A到12C中所示三个尺寸的图像。当显示具有不同光栅尺寸的其它图像时，发光亮度的恶化不同于图13A和13B的发光亮度的恶化。

此外，有机EL显示面板具有的问题在于：亮度或色度由于面板温度而改变。因此，即使使用温度进行校正时，也需要考虑像素的恶化。然而，当像素的恶化在像素的每一个位置上不同时，可能由于不可进行适当的校正这一事实而出现问题。