[发明专利]RFID未层压卡、RFID标签及它们的制造方法无效

专利信息
申请号: 201110048619.6 申请日: 2011-02-25
公开(公告)号: CN102346868A 公开(公告)日: 2012-02-08
发明(设计)人: 皆川圆;谏田尚哉;坂间功;佐川茂;柴田大辅 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G06K19/077 分类号: G06K19/077;H01Q1/22;H01Q1/38
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: rfid 层压 标签 它们 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种RFID未层压卡,其特征在于,包括:

基膜;

形成在该基膜上的天线图案;

形成在所述天线图案上、具有孔部的绝缘膜层;

在所述绝缘层膜的孔部内与该天线图案连接的IC芯片;和

填充在所述IC芯片与所述天线及所述基膜之间的底部填充胶,

所述IC芯片的上表面的高度位于比所述绝缘膜层的上表面高的位置,所述底部填充胶形成在所述IC芯片与所述绝缘膜的孔部壁面之间。

2.如权利要求1所述的RFID未层压卡,其特征在于:

形成在所述天线图案上的绝缘膜层,在搭载有所述IC芯片的部位的周边,从所述天线图案上被除去。

3.如权利要求1所述的RFID未层压卡,其特征在于:

所述绝缘膜层是在形成所述天线图案时被用作掩模的抗蚀剂。

4.如权利要求1所述的RFID未层压卡,其特征在于:

所述绝缘膜层是贴附在所述天线图案上的膜。

5.一种RFID标签,其特征在于,包括:

权利要求1所述的RFID未层压卡;

形成层,其具有窗部,以使所述IC芯片收容在所述窗部内的方式设置在所述绝缘膜层上;

在所述形成层的窗部内设置在所述IC芯片与所述形成层之间的缓冲层;和

设置在所述形成层和所述IC芯片上的印刷层。

6.如权利要求5所述的RFID标签,其特征在于:

在所述形成层及所述IC芯片与所述印刷层之间具有基层。

7.一种RFID未层压卡的制造方法,其特征在于:

在形成有天线图案材料的基膜上涂布抗蚀剂,对天线图案进行曝光,形成天线图案,

将在形成的该天线图案上残留的抗蚀剂中的在所述天线图案搭载IC芯片的部分及其周边的抗蚀剂除去,

在除去了抗蚀剂的该天线图案上搭载并连接IC芯片,

在所述IC芯片与所述天线及所述基膜之间,以及在所述IC芯片与所述抗蚀剂之间的间隙,填充底部填充胶。

8.如权利要求7所述的RFID未层压卡的制造方法,其特征在于:

按照使得所述抗蚀剂层的厚度比所述IC芯片的厚度薄的方式涂布所述抗蚀剂。

9.如权利要求7所述的RFID未层压卡的制造方法,其特征在于:

通过对在所述天线图案搭载IC芯片的部分及其周边的抗蚀剂照射激光而使抗蚀剂消失,将在所述天线图案搭载IC芯片的部分及其周边的抗蚀剂除去。

10.如权利要求7所述的RFID未层压卡的制造方法,其特征在于:

通过如下方式将在所述天线图案搭载IC芯片的部分及其周边的抗蚀剂除去:在将搭载所述IC芯片的部分及其周边的抗蚀剂遮蔽的状态下,用比使所述天线图案曝光时更强的光对其他部分的抗蚀剂进行曝光,除去未被该较强的光进行曝光的所述遮蔽的区域的抗蚀剂。

11.一种RF标签的制造方法,其特征在于:

将以权利要求7所述的制造方法制造的RFID未层压卡的形成层与所述抗蚀剂接合,该形成层在与所述IC芯片的上表面相当的部分具有窗部,表面的高度与所述IC芯片的表面的高度大致相等,

在该形成层与所述基膜及所述IC芯片之间的间隙填充缓冲材料,

以覆盖所述形成层和所述IC芯片的表面的方式接合印刷层。

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