[发明专利]RFID未层压卡、RFID标签及它们的制造方法无效
申请号: | 201110048619.6 | 申请日: | 2011-02-25 |
公开(公告)号: | CN102346868A | 公开(公告)日: | 2012-02-08 |
发明(设计)人: | 皆川圆;谏田尚哉;坂间功;佐川茂;柴田大辅 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G06K19/077 | 分类号: | G06K19/077;H01Q1/22;H01Q1/38 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | rfid 层压 标签 它们 制造 方法 | ||
1.一种RFID未层压卡,其特征在于,包括:
基膜;
形成在该基膜上的天线图案;
形成在所述天线图案上、具有孔部的绝缘膜层;
在所述绝缘层膜的孔部内与该天线图案连接的IC芯片;和
填充在所述IC芯片与所述天线及所述基膜之间的底部填充胶,
所述IC芯片的上表面的高度位于比所述绝缘膜层的上表面高的位置,所述底部填充胶形成在所述IC芯片与所述绝缘膜的孔部壁面之间。
2.如权利要求1所述的RFID未层压卡,其特征在于:
形成在所述天线图案上的绝缘膜层,在搭载有所述IC芯片的部位的周边,从所述天线图案上被除去。
3.如权利要求1所述的RFID未层压卡,其特征在于:
所述绝缘膜层是在形成所述天线图案时被用作掩模的抗蚀剂。
4.如权利要求1所述的RFID未层压卡,其特征在于:
所述绝缘膜层是贴附在所述天线图案上的膜。
5.一种RFID标签,其特征在于,包括:
权利要求1所述的RFID未层压卡;
形成层,其具有窗部,以使所述IC芯片收容在所述窗部内的方式设置在所述绝缘膜层上;
在所述形成层的窗部内设置在所述IC芯片与所述形成层之间的缓冲层;和
设置在所述形成层和所述IC芯片上的印刷层。
6.如权利要求5所述的RFID标签,其特征在于:
在所述形成层及所述IC芯片与所述印刷层之间具有基层。
7.一种RFID未层压卡的制造方法,其特征在于:
在形成有天线图案材料的基膜上涂布抗蚀剂,对天线图案进行曝光,形成天线图案,
将在形成的该天线图案上残留的抗蚀剂中的在所述天线图案搭载IC芯片的部分及其周边的抗蚀剂除去,
在除去了抗蚀剂的该天线图案上搭载并连接IC芯片,
在所述IC芯片与所述天线及所述基膜之间,以及在所述IC芯片与所述抗蚀剂之间的间隙,填充底部填充胶。
8.如权利要求7所述的RFID未层压卡的制造方法,其特征在于:
按照使得所述抗蚀剂层的厚度比所述IC芯片的厚度薄的方式涂布所述抗蚀剂。
9.如权利要求7所述的RFID未层压卡的制造方法,其特征在于:
通过对在所述天线图案搭载IC芯片的部分及其周边的抗蚀剂照射激光而使抗蚀剂消失,将在所述天线图案搭载IC芯片的部分及其周边的抗蚀剂除去。
10.如权利要求7所述的RFID未层压卡的制造方法,其特征在于:
通过如下方式将在所述天线图案搭载IC芯片的部分及其周边的抗蚀剂除去:在将搭载所述IC芯片的部分及其周边的抗蚀剂遮蔽的状态下,用比使所述天线图案曝光时更强的光对其他部分的抗蚀剂进行曝光,除去未被该较强的光进行曝光的所述遮蔽的区域的抗蚀剂。
11.一种RF标签的制造方法,其特征在于:
将以权利要求7所述的制造方法制造的RFID未层压卡的形成层与所述抗蚀剂接合,该形成层在与所述IC芯片的上表面相当的部分具有窗部,表面的高度与所述IC芯片的表面的高度大致相等,
在该形成层与所述基膜及所述IC芯片之间的间隙填充缓冲材料,
以覆盖所述形成层和所述IC芯片的表面的方式接合印刷层。
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