[发明专利]微粒子检测装置无效

专利信息
申请号: 201110034822.8 申请日: 2011-01-30
公开(公告)号: CN102192897A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: 青山拓 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G01N21/53 分类号: G01N21/53;G08B17/107
代理公司: 北京金信立方知识产权代理有限公司 11225 代理人: 黄威;张彬
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 微粒子 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种微粒子检测装置,具备:

气室,其封入有气体状的碱金属原子;

光源,其出射包括具有相干性且频率不同的第1光和第2光在内的多种光;

光检测部,其接收从所述光源起经由有可能存在所给的微粒子的空间而入射至所述气室并透过所述气室的光,并生成对应于所接收的光的强度的检测信号;

频率控制部,其对所述第1光以及所述第2光中的至少一方进行频率控制,以使所述第1光和所述第2光成为使所述碱金属原子发生电磁诱导透明现象的一对共振光;

解析判断部,其根据所述检测信号,来进行对所述微粒子的有无以及所述微粒子的浓度中的至少一方的解析判断。

2.如权利要求1所述的微粒子检测装置,其中,

所述频率控制部在预定的频率范围内对所述第1光以及所述第2光中的至少一方的频率进行扫描,以使所述第1光和所述第2光成为所述一对共振光,

所述解析判断部在所述第1光和所述第2光的频率差不同的多个正时获取所述检测信号,并根据所取得的多个所述检测信号来进行所述解析判断。

3.如权利要求1所述的微粒子检测装置,其中,

所述频率控制部进行所述频率控制以使所述检测信号的电平成为最大,

所述解析判断部将所述检测信号的电压与预定的阈电压相比较,并根据比较结果进行所述解析判断。

4.如权利要求3所述的微粒子检测装置,其中,

所述频率控制部产生用于对所述光源进行频率调制的调制信号,并控制所述调制信号的频率以使所述检测信号的电平成为最大。

5.如权利要求1所述的微粒子检测装置,其中,

所述解析判断部具有表格信息,并参照该表格信息进行所述解析判断,其中,所述表格信息定义了所述检测信号的预定信息与所述微粒子的浓度之间的对应关系。

6.如权利要求1所述的微粒子检测装置,其中,

所述光源、所述气室以及所述光检测部,被收容于一个筐体内部,

在所述筐体表面中的第1面上,以与所述光源对置的方式设置有光能够通过的第1窗,且隔着所述微粒子能够进入的空间,在所述筐体表面中的与所述第1面对置的第2面上,以与所述气室对置的方式设置有光能够通过的第2窗,

从所述光源出射的光穿过所述第1窗而向所述筐体的外部出射,从所述微粒子能够进入的空间通过的光穿过所述第2窗而从所述筐体的外部入射至所述气室。

7.如权利要求1所述的微粒子检测装置,其中,

所述光源、所述气室以及所述光检测部,被收容于一个筐体内部,

在所述筐体的表面上,以与所述光源对置的方式设置有光能够通过的第1窗,且以与所述气室对置的方式设置有光能够通过的第2窗,

从所述光源出射的光穿过所述第1窗而向所述筐体的外部出射,由反射器所反射的光穿过所述第2窗而从所述筐体的外部入射至所述气室。

8.如权利要求1所述的微粒子检测装置,其中,

所述光源被收容于第1筐体内部,

所述气室以及所述光检测部被收容于第2筐体内部,

在所述第1筐体的表面上,以与所述光源对置的方式设置有光能够通过的第1窗,

在所述第2筐体的表面上,以与所述气室对置的方式设置有光能够通过的第2窗,

从所述光源出射的光穿过所述第1窗而向所述第1筐体的外部出射,并穿过所述第2窗而从所述第2筐体的外部入射至所述气室。

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