[发明专利]硅材料的压差湿处理装置及其处理方法无效
申请号: | 201110033388.1 | 申请日: | 2011-01-30 |
公开(公告)号: | CN102618933A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 倪党生;朱伟然 | 申请(专利权)人: | 上海思恩电子技术有限公司 |
主分类号: | C30B33/00 | 分类号: | C30B33/00;C30B29/06;B08B3/10 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 邓琪 |
地址: | 201323 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 材料 压差湿 处理 装置 及其 方法 | ||
1.一种硅材料的压差湿处理装置,包括:
压差容器;
在所述压差容器的内部,通过一支架设置有用于安放硅材料的载料构件;
在所述压差容器的顶部设有密封盖;
其特征在于,所述压差容器的壁面上设有超纯水入口,液位接口,排液接口,压缩气体接口和真空接口。
2.如权利要求1所述的硅材料的压差湿处理装置,其特征在于,所述超纯水入口设于临近所述载料构件的下部边沿平面。
3.如权利要求1所述的硅材料的压差湿处理装置,其特征在于,所述液位接口的位置略高于所述载料构件的上部边沿平面。
4.如权利要求1所述的硅材料的压差湿处理装置,其特征在于,所述排液接口位于所述压差容器的最低点处。
5.如权利要求1所述的硅材料的压差湿处理装置,其特征在于,所述压缩气体接口和真空接口高于所述液位接口。
6.如权利要求1所述的硅材料的压差湿处理装置,其特征在于,所述密封盖包括盖体,设于盖体的边缘彼此相对的转动臂和锁紧机构。
7.如权利要求6所述的硅材料的压差湿处理装置,其特征在于,所述密封盖还包括设于所述盖体的下部整个圆周边缘的密封圈。
8.如权利要求6所述的硅材料的压差湿处理装置,其特征在于,所述压差容器和所述密封盖的横截面为圆形或矩形。
9.如权利要求1所述的硅材料的压差湿处理装置,其特征在于,所述装置还包括与所述超纯水入口相连的纯水供应管路,所述纯水供应管路设有在线加热器。
10.一种硅材料的压差湿处理方法,其特征在于,将所述硅材料放入容器内部,密封所述容器;加入超纯水浸泡所述硅材料;往所述容器内通入压缩气体保压一定时间后抽真空。
11.如权利要求1所述的硅材料的压差湿处理方法,其特征在于,所述超纯水为20℃~80℃的超纯水。
12.如权利要求1所述的硅材料的压差湿处理方法,其特征在于,所述压缩气体压力为0~500kP。
13.如权利要求1所述的硅材料的压差湿处理方法,其特征在于,所述保压时间为30~180秒。
14.如权利要求1所述的硅材料的压差湿处理方法,其特征在于,所述抽真空压力为-70kPa~0kPa。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海思恩电子技术有限公司,未经上海思恩电子技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110033388.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。