[发明专利]短样本密集频率信号的参数测量方法有效
申请号: | 201110033383.9 | 申请日: | 2011-01-30 |
公开(公告)号: | CN102175916A | 公开(公告)日: | 2011-09-07 |
发明(设计)人: | 黄翔东;朱晴晴 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01R23/02 | 分类号: | G01R23/02;G01R23/16 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 杜文茹 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 样本 密集 频率 信号 参数 测量方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种频率信号的参数测量。特别是涉及一种在采集到短样本时,对包含密集邻近成分的正弦波信号进行频率、初相位和幅值的数字测量的短样本密集频率信号的参数测量方法。
背景技术
多频正弦波的频率、幅值和初相的参数测量是工程界常常遇到的问题。目前,正弦信号的数字测量法以其精度高、方案灵活且无需引入复杂电路等优点成为广泛使用的测量手段。数字测量方法需要以一定采样速率对信号进行采样,再借助数字信号处理算法对采样数据进行分析计算,而得到频率、幅值和初相的估计值。因此,数字信号处理方法的优劣直接决定了最终参数估计精度和测量范围。
然而,在各领域的工程实践中,对于多频正弦波的参数测量,存在一个很棘手的难题。那就是信号的多种频率成分中,经常会遇到相邻的两个频率成分挨得非常近的情况(如在军事无线电环境中,接收载波经常会受到近频位置的敌方强干扰),而且受采样时间所限,我们常常采集不到足够长的样本信号。如何分辨并测量短样本情况下的近频成分及其频率、幅值和初相参数一直是工程实践中的一个挑战性的难题,迫切需要解决。
近些年来,人们也一直致力于对信号参数测量方法的研究,研究成果层出不穷,比如:
(1)计数相加法(大石和明,石田秀树.频率测量电路[P].日本:008144012000.08.18.),提出了频率测量单元在相互移位的周期内对参考时钟进行计数。设置加法器来把频率测量单元的计数相加。通过把在移位的周期内测得的计数值这样相加,得到频率测量结果。
(2)自适应频率测量器法(胡前南,曹全喜,龚洪金,刘亚威.自适应频率测量器[P]中国:2008202215832008.12.04.)。此装置包括采样转换电路,采样转换电路连接滤波电路,滤波电路连接数模转换电路,数模转换电路连接数字量处理单片机,数字量处理单片机连接人机接口。通过硬件电路完成比较宽范围的频率测量。
(3)采样统计法(严可国,金存山.一种频率测量方法和装置[P].中国:2008100571922008.01.30.)。此测量装置包括:接收被测信号,所述被测信号的边沿触发中断;当采样完成时,根据当前中断次数获取要求采样次数;根据定时中断次数和定时器时间,获取采样时间;根据所述要求采样次数和采样时间,获取所述被测信号的频率值。
以上种种方法均通过硬件电路实现,过分依赖专用的电路,因而会耗费大量硬件资源而且测量范围有限,精度难把握,并且当遇到两个频率成分挨得很近的情况上述方法显得无能为力。因此,近期人们把信号参数测量方法的由硬件逐渐转向软件,用数学方法通过软件编程实现参数的测量与分析。
DFT(Discrete Fourier Transform,离散傅里叶变换)和DTFT(Discrete Time FourierTransform,离散时间傅里叶变换)是最常用的正弦信号的参数估计法,DFT是DTFT在频域内的离散采样结果。两者都可以直接对采样序列进行变换而得到谱图,在谱图上直接搜索出峰值谱位置,再通过辨识谱峰位置而区分临近成分。
从谱分析的角度看来,一方面,样本长度直接决定了谱分析的阶数,短样本则意味着谱分析阶数N无法取得过高,因而很可能使得信号包含的两近邻频率成分的间距小于DFT的频率分辨率Δω=2π/N,即属于短样本密集谱情况,显然由短样本而形成的密集谱会增大频率成分的识别难度;另一方面,DTFT与DFT的一个共同缺陷是,两种谱分析都存在很严重的谱泄漏效应。如Sanjit K.Mitra.DIGITAL SIGNAL PROCESSING:A Computer Based Approach,3rdEdition[M].NewYork:McGraw-Hill,2005、高西全,丁玉美.数字信号处理-第三版[M].西安:西安电子科技大学出版社,2008、以及D.Agrez.Improving phase estimation with leakageminimization[J]IEEE Trans.Instrum.Meas.,2005,54(4):1347-1353所述。
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