[发明专利]用于在辐照期间控制剂量施用的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201080062344.5 申请日: 2010-08-31
公开(公告)号: CN102725029A 公开(公告)日: 2012-10-10
发明(设计)人: C.博特;R.鲁克腾伯格 申请(专利权)人: GSI亥姆霍兹重离子研究中心有限责任公司
主分类号: A61N5/10 分类号: A61N5/10
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 谢强
地址: 德国达*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 辐照 期间 控制 剂量 施用 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种在通过扫描方法用能量束(27)辐照身体(30)内的运动的目标体积(32)期间控制剂量施用的方法,其中,

使用目标体积(32)的多个栅格位置(i,1<=i<=N)生成用于一个或多个辐照流程(j,1<=j<=J)的辐照计划(46),其中在辐照计划(46)中,对于栅格位置的辐照,分别确定取决于栅格位置的公称粒子注量,

采集辐照期间所述身体(30)的运动(33),从而确定辐照期间栅格位置的运动,

使用具有依赖于栅格位置可调节的粒子能量和粒子注量的射束(27)对单个栅格位置进行扫描,从而可以在各个栅格位置处施用依赖于栅格位置的剂量,其中:

i1)使用运动数据在辐照流程期间于辐照所述多个栅格位置的第i个栅格位置之前确定以下剂量:第i个栅格位置已经在辐照先前的栅格位置(k,1<=k<i)中获得所述剂量,

i2)在辐照第i个栅格位置之前,根据所确定的剂量,计算第i个栅格位置的补偿值(ΔDi),其中第i个栅格位置已经在辐照先前的栅格位置(k,1<=k<i)中获得该所确定的剂量,

i3)在辐照第i个位置之前,根据第i个栅格位置的补偿值(ΔDi)和第i个栅格位置的公称粒子注量(Finom),计算第i个栅格位置的补偿粒子注量(Fikomp),并且其中

i4)使用针对第i个栅格位置所确定的补偿粒子注量(Fikomp)辐照第i个栅格位置,

其中,对所述多个栅格位置(1<=i<=N)实施所述步骤i1)至i4)。

2.根据权利要求1的方法,

其中,对第i个栅格位置的补偿值(Di)的计算至少部分地在辐照第i-1个格栅位置期间进行。

3.根据上述权利要求中任一项所述的方法,

其中,为了计算第i个栅格位置的补偿值(ΔDi),在辐照期间对1至i-1的所有l上的剂量变化求和,第i个栅格位置在辐照所有先前受辐照的栅格位置l时已经获得所述剂量变化,并且由剂量变化的和在辐照第i-1个栅格位置期间计算用于辐照第i个栅格位置的补偿值。

4.根据上述权利要求中任一项所述的方法,

其中,第i个栅格位置的补偿值为使用第i个栅格位置的参考剂量(Diiref)归一化的对于第i个栅格位置的相对校正因子并且将所述校正因子应用于在辐射计划(46)中确立的第i个栅格位置的公称粒子注量(Finom),从而计算第i个栅格位置的补偿粒子注量(Fikomp)。

5.根据上述权利要求中任一项所述的方法,

其中,包括治疗控制系统(70,72,84),其与加速装置(21)的控制设备(82)通信并具有用于控制粒子注量(72)的子系统,所述子系统控制所施用的所有栅格位置的粒子注量,

其中,在辐照第i-1个栅格位置期间将所述第i个栅格位置的补偿值存储在所述用于控制粒子注量(72)的子系统存储器中,并且接着用于控制粒子注量(72)的子系统从所述存储器中载入第i个栅格位置的补偿值,并且将其应用于在辐照计划(46)中确立的第i个栅格位置的公称粒子注量,从而在后面使用第i个栅格位置的补偿粒子注量辐照第i个栅格位置。

6.根据上述权利要求中任一项所述的方法,

其中,在辐照第i个栅格位置期间不同时计算所有后续栅格位置(>=i+1)的剂量变化,而是首先计算第i+1个栅格位置的剂量变化和补偿值,并且稍后计算后续栅格位置(>=i+2)的剂量变化和补偿值。

7.根据上述权利要求中任一项所述的方法,

其中,在辐照第i个栅格位置期间不同时计算所有后续栅格位置(>=i+1)的剂量变化,而是首先仅计算等能量层(320-329)的栅格位置的剂量变化,其中第i个栅格位置位于所述等能量层(320-329)中,和

后续等能量层的栅格位置的剂量变化至少部分地在辐照所述等能量层之间的辐照暂停中进行计算。

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