[发明专利]量化光电子模块中的链路质量有效

专利信息
申请号: 201080035338.0 申请日: 2010-07-09
公开(公告)号: CN102598542A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 阮氏玲 申请(专利权)人: 菲尼萨公司
主分类号: H04B10/08 分类号: H04B10/08;H04B10/06
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 杜诚;陈炜
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 量化 光电子 模块 中的 质量
【权利要求书】:

1.一种光电子模块,包括:

光接收器,其被配置成接收光信号并产生对应于所述光信号的电数据信号;

后置放大器,其电气连接到所述光接收器并被配置成放大所述电数据信号;以及

用于量化所述光信号的质量的装置,所述放大的电数据信号是根据所述光信号获得的。

2.根据权利要求1所述的光电子模块,其中所述用于量化所述光信号的质量的装置包括重定时电路。

3.根据权利要求2所述的光电子模块,其中所述重定时电路包括:主通道判决电路和差错通道判决电路,所述主通道判决电路和所述差错通道判决电路两者被配置成接收由所述后置放大器输出的所述放大的电数据信号和时钟信号;以及异或电路,所述异或电路连接到所述主通道判决电路和所述差错通道判决电路的输出。

4.根据权利要求3所述的光电子模块,其中所述重定时电路还包括第一移位寄存器和第二移位寄存器,所述第一移位寄存器连接在所述主通道判决电路与所述异或电路之间,所述第二移位寄存器连接在所述差错通道判决电路与所述异或电路之间。

5.根据权利要求3所述的光电子模块,还包括控制模块,所述控制模块被配置成相对于所述主通道判决电路的相应的时序、阈值或时序与阈值两者来调节所述差错通道判决电路的时序、阈值或时序与阈值两者。

6.根据权利要求3所述的光电子模块,其中所述重定时电路被配置成从所述数据信号中提取所述时钟信号。

7.根据权利要求3所述的光电子模块,其中所述重定时电路被配置成从主机系统接收所述时钟信号。

8.一种量化光电子模块中的链路质量的方法,所述方法包括:

在光电子模块的主通道判决电路和差错通道判决电路处接收数据信号,所述数据信号是根据光信号获得的;

在所述主通道判决电路处对所述数据信号进行重定时,以产生重定时的数据信号;

调节所述差错通道判决电路的方面,使得所述差错通道判决电路的所述方面不同于所述主通道判决电路的相应方面;

在所述差错通道判决电路处对所述数据信号进行重定时,以产生重定时的伪数据信号;

将所述重定时的数据信号与所述重定时的伪数据信号进行比较;以及

基于所述重定时的数据信号与所述重定时的伪数据信号的所述比较,确定所述光信号的质量。

9.根据权利要求8所述的方法,其中确定所述光信号的质量包括:确定所述光信号的信噪比。

10.根据权利要求8所述的方法,还包括:在确定所述光信号的质量之前,当所述重定时的数据信号中的位基本上不等于所述重定时的伪数据信号中的相应位时,识别伪差错事件,并基于在通过时钟信号的时钟脉冲数计量的时间段期间识别出的伪差错事件的数目来计算伪位差错率。

11.根据权利要求10所述的方法,还包括迭代执行如下步骤以获得表示作为所述差错通道判决电路的被调节的方面的函数的伪位差错率的多个数据点:调节所述差错通道判决电路的方面;在所述差错通道判决电路处对所述数据信号进行重定时;将所述重定时的数据信号与所述重定时的伪数据信号进行比较;识别伪差错事件;以及计算伪位差错率。

12.根据权利要求11所述的方法,其中确定所述光信号的质量包括:确定拟合到所述多个数据点的集合的伪位差错率曲线的斜率。

13.根据权利要求12所述的方法,其中所述伪位差错率曲线的所述斜率与所述光信号的信噪比成比例。

14.根据权利要求10所述的方法,还包括:从所述数据信号中提取所述时钟信号或从主机系统接收所述时钟信号。

15.根据权利要求8所述的方法,其中调节所述差错通道判决电路的方面包括:调节所述差错通道判决电路的阈值或时序。

16.根据权利要求8所述的方法,其中调节所述差错通道判决电路的方面包括:调节所述差错通道判决电路的时序,所述方法还包括:在将所述重定时的数据信号与所述重定时的伪数据信号进行比较之前,将所述重定时的数据信号的时序与所述重定时的伪数据信号的时序对齐。

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