[发明专利]摄像设备和摄像方法有效
| 申请号: | 201080022515.1 | 申请日: | 2010-05-20 |
| 公开(公告)号: | CN102438502A | 公开(公告)日: | 2012-05-02 |
| 发明(设计)人: | 佐藤真;杉田充朗 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
| 主分类号: | A61B3/12 | 分类号: | A61B3/12;A61B5/00;G01B9/02;G01N21/47 |
| 代理公司: | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人: | 魏启学 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 摄像 设备 方法 | ||
1.一种摄像设备,包括:
照射单元,用于向被检体照射多个测量光束;
改变单元,用于改变所述照射单元照射在所述被检体的预定同一层的所述多个测量光束的照射位置之间的位置关系;
扫描单元,用于按所述改变单元改变后的位置关系来扫描所述多个测量光束;以及
获取单元,用于基于所述扫描单元进行扫描所使用的所述多个测量光束来获取所述被检体的光学相干断层图像。
2.根据权利要求1所述的摄像设备,其特征在于,
所述被检体是被检眼,以及
所述改变单元是用于改变所述多个测量光束在所述被检眼的眼底表面上的照射位置之间的间隔的部件。
3.根据权利要求1所述的摄像设备,其特征在于,所述改变单元是用于改变所述扫描单元在所述多个测量光束的照射位置处沿着副扫描方向的宽度的部件。
4.根据权利要求1所述的摄像设备,其特征在于,所述改变单元是用于将所述多个测量光束的照射位置的排列从所述扫描单元的主扫描方向向着副扫描方向改变的部件、或者用于将所述多个测量光束的照射位置的排列从所述副扫描方向向着所述主扫描方向改变的部件。
5.根据权利要求1所述的摄像设备,其特征在于,还包括多个光纤端,所述多个光纤端用于向所述被检体射出所述多个测量光束,其中,所述改变单元是用于使所述多个光纤端以所述多个测量光束的射出方向作为轴进行转动的部件或者用于选择所述多个光纤端中的一部分光纤端的部件。
6.根据权利要求1所述的摄像设备,其特征在于,还包括:
分析单元,用于对在比获取所述光学相干断层图像的扫描区域宽的扫描区域内所获取到的所述被检体的广域图像进行分析;以及
控制单元,用于通过使用所述分析单元的分析结果来控制所述改变单元。
7.一种摄像设备,包括:
照射单元,用于向被检体照射多个测量光束;
改变单元,用于改变所述照射单元照射至所述被检体的所述多个测量光束的照射位置之间的位置关系;
扫描单元,用于按所述改变单元改变后的位置关系来扫描所述多个测量光束;
获取单元,用于基于所述扫描单元进行扫描所使用的所述多个测量光束来获取所述被检体的光学相干断层图像;
分析单元,用于对在比获取所述光学相干断层图像的扫描区域宽的扫描区域内所获取到的所述被检体的广域图像进行分析;以及
控制单元,用于通过使用所述分析单元的分析结果来控制所述改变单元。
8.根据权利要求7所述的摄像设备,其特征在于,
所述分析单元根据所述广域图像来确定所述被检体的观察区域;
所述改变单元改变所述位置关系,以使得所述多个测量光束的照射位置之间的间隔与获取所述广域图像时相比变窄;以及
所述获取单元按所述改变单元改变后的位置关系获取所述观察区域内的光学相干断层图像。
9.一种摄像方法,包括以下步骤:
照射步骤,用于向被检体照射多个测量光束;
扫描步骤,用于扫描所述多个测量光束;
获取步骤,用于基于所述多个测量光束来获取所述被检体的光学相干断层图像;
分析步骤,用于对在比获取所述光学相干断层图像的扫描区域宽的扫描区域内所获取到的所述被检体的广域图像进行分析;以及
改变步骤,用于通过使用所述分析步骤的分析结果来改变照射至所述被检体的所述多个测量光束的照射位置之间的位置关系。
10.根据权利要求9所述的摄像方法,其特征在于,
所述被检体是被检眼;
所述改变步骤是改变所述多个测量光束在所述被检眼的眼底表面上的照射位置之间的间隔的步骤。
11.根据权利要求9所述的摄像方法,其特征在于,还包括确定步骤,所述确定步骤用于根据所述广域图像来确定所述被检体的观察区域,其中
所述改变步骤将所述多个测量光束的照射位置之间的间隔改变得比获取所述广域图像时的间隔窄;以及
所述获取步骤按改变后的位置关系来获取所述观察区域内的断层图像。
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