[实用新型]电子零件的转接式测试设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试设备，尤其涉及一种电子零件的转接式测试设备。

背景技术

传统的存储器模块的集成电路的测试方法，都是通过专业的测试设备，利用人工的方式执行测试。举例而言，可以将集成电路插在专用的集成电路测试电路板上，再利用测试电路板进行开机测试，由人工的方式观看测试结果，再依据测试结果对测试过的存储器模块进行分类。

虽然可以通过机器手臂来对集成电路进行插拔的动作，但是集成电路测试电路板必须水平置放，以让机器手臂可以将集成电路插入至集成电路测试电路板上的插槽。然而，集成电路测试电路板需要有中央处理器、散热模块、显示模块等模块，所以占了相当大的水平区域。若要对众多集成电路进行测试，则必须利用众多的集成电路测试电路板，而这些集成电路测试电路板只能水平置放，这样占据了相当大的空间，不利测试场所的小型化，因而增加了测试成本。

实用新型内容

因此，本实用新型的一个目的是提供一种电子零件的转接式测试设备，并达到自动化测试的目的，节省测试空间并减少测试成本。

为达上述目的，本实用新型提供一种电子零件的转接式测试设备，其包含一箱体组件、多个第一主机板组件及一处理机。第一主机板组件设置于箱体组件中。各第一主机板组件包含一主机板、一第一主插座、一转接板、多个测试插座及一中央处理器。主机板直立地设置于箱体组件中。第一主插座设置于主机板上，并电连接至主机板。转接板电连接至第一主插座，并实质上垂直于主机板。测试插座设置于转接板上。中央处理器设置于主机板上，并电连接至主机板。处理机将多个电子零件分别沿着一铅直方向插入至此等测试插座中以进行测试，并于测试完毕后将此等电子零件拔出。

通过上述的转接式测试设备，可以在有限的空间下创造出更多的测试产能，并有效降低测试成本。

为让本实用新型的上述内容能更明显易懂，下文特举一较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本实用新型的限定。在附图中：

图1显示依据本实用新型第一实施例的转接式测试设备的整体示意图；

图2显示图1的转接式测试设备的局部示意图；

图3显示图1的转接式测试设备的局部立体示意图；

图4显示依据本实用新型第二实施例的定位加压机构的剖视图；

图5显示依据本实用新型第二实施例的转接式测试设备的局部示意图；

图6与图7显示依据本实用新型第二实施例的转接式测试设备的局部示意图；

图8显示依据本实用新型的处理机、电源供应器及主机板的连接关系。

附图标号：

DV：铅直方向

1：测试设备

10：箱体组件

10′：附加箱体组件

12：底座

14：上盖

16：温控模块

17：加热器

18：空间

20：第一主机板组件

21：主机板

22：第一主插座

23：第二主插座

24：转接板

26：测试插座

28：中央处理器

29A：散热风扇

29B：显示卡

30：处理机

31：悬吊支架

32：机器手臂

40：电源供应器

50：测试前暂存区

51：测试前储存区

55：测试后粗分类区

56：测试后细分类区

60：第二主机板组件

70：定位加压机构

71：第一定位结构

72：第二定位结构

73：压块

74：加压机构

75：第二悬吊支架

80：机台

90：油压缸

95：油压缸悬吊支架

100：电子零件

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合附图对本实用新型实施例做进一步详细说明。在此，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，但并不作为对本实用新型的限定。

图1显示依据本实用新型第一实施例的转接式测试设备的整体示意图。图2显示图1的转接式测试设备的局部示意图。图3显示图1的转接式测试设备的局部立体示意图。