[实用新型]一种电极连接装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及光伏技术领域，特别是涉及一种电极连接装置。

背景技术

目前在光伏行业中，成品光伏产品，特别是晶体硅组件的品质检测都是依靠先进检测仪器，如电致发光测试仪器。

在电致发光测试仪器测试晶体硅组件的过程中，需要对测试仪器和晶体硅组件的电缆线接头进行连接，目前都是采用人工连接的方式：先将晶体硅组件送入测试仪器中，测试仪器位于一个暗箱内；之后人员进入暗箱，手动将测试仪器和晶体硅组件的电缆线接头对应插接；人员从暗箱中出来，给测试仪器加电进行检测；检测完毕后，人员再进入暗箱手动将电缆线插头拔开；晶体硅组件从测试仪器中流出。

但是，测试过程中需要人工连接存在操作繁琐、耗时长和易发生触电等安全事故的问题，已经不适应流水线规模生产的节奏和安全要求。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种电极连接装置，以实现测试过程中测试仪器和晶体硅组件电极进行连接并测试的流水作业。

本实用新型提供了一种电极连接装置，所述电极连接装置包括电极连接部、与所述电极连接部固定连接的第一限位部、以及与所述第一限位部固定连接的第二限位部：

所述电极连接部包括两个导电片，每个导电片与一根导线的一端电连接；

所述第一限位部包括与待测试晶体硅组件背面边框的宽度相适应的第一固定槽；所述第一限位部通过第一固定槽扣接在待测试晶体硅组件背面的边框上；

所述第二限位部具有与所述第一固定槽底面相平的台面，所述台面上具有与待测试晶体硅组件背面边框上的安装孔相适应的凸块；当所述第一限位部通过第一固定槽扣接到待测试晶体硅组件背面的边框上时，所述凸块插接到所述安装孔中。

所述导电片可以固定在第一限位部远离第一固定槽一侧的表面上。

每个所述导电片上还可以具有至少一个固定孔，且所述第一限位部与固定孔对应的位置具有螺孔。

所述第二限位部可以包括与待测试晶体硅组件背面边框的宽度相适应的第二固定槽，第二固定槽与第一固定槽扣接到待测试晶体硅组件背面的同一条边框上，则所述台面即为第二固定槽的底面。

所述第一限位部远离第一固定槽一侧的表面上还可以具有凹槽，所述导电片镶嵌并固定在所述凹槽内。

所述第一限位部和第二限位部固定连接的方式可以为螺栓螺接或粘接。

所述电极连接部和第一限位部固定连接的方式可以为螺栓螺接或粘接。

所述第一限位部和第二限位部均可以采用绝缘材料。

所述导电片的形状优选可以为T字形或十字形

本实用新型的电极连接装置，通过第一限位部和第二限位部将整个电极连接装置定位在待测试晶体硅组件背面的边框上，通过电极连接部连接待测试晶体硅组件电缆线的通用接头，以利于电致发光测试仪器的探针进行定位检测，实现了测试仪器和晶体硅组件电极进行连接并测试的流水作业，操作简便、快捷，且避免了检测过程中的人工操作，防止触电等安全事故发生；由于第二限位部可以根据不同型号的晶体硅组件进行调换，电极连接部、第一限位部可以与第二限位部进行灵活组合，更节省成本。

附图说明

图1是本实用新型的电极连接装置的俯视示意图；

图2是本实用新型的电极连接装置的电极连接部和一种第一限位部的主视示意图；

图3是本实用新型的电极连接装置的一种第二限位部的主视示意图；

图4是待测试晶体硅组件背面的局部示意图；

图5是本实用新型的电极连接装置扣插在待测试晶体硅组件背面边框上的示意图；

图6是本实用新型的另一种第二限位部的主视示意图；

图7是本实用新型的另一种第一限位部沿图5中A-A线的截面示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型实施例作进一步详细的说明。

本实用新型提供了一种电极连接装置，同时参见图1至图5，所述电极连接装置包括电极连接部1、第一限位部2和第二限位部3。

电极连接部1与第一限位部2固定连接，第一限位部2与第二限位部3固定连接。所述第一限位部2和第二限位部3固定连接的方式可以为螺栓螺接或粘接(如使用耐高温专用胶水)，第一限位部2和第二限位部3也可以一体成型；所述电极连接部1和第一限位部2固定连接的方式可以为螺栓螺接或粘接(如使用耐高温专用胶水)。