[实用新型]132线0.635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座无效

专利信息
申请号: 201020281947.1 申请日: 2010-08-02
公开(公告)号: CN201910526U 公开(公告)日: 2011-07-27
发明(设计)人: 曹金学 申请(专利权)人: 曹金学
主分类号: H01R13/46 分类号: H01R13/46;H01R13/42;H01R13/629;G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 313119 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 132 0.635 陶瓷 四边 引线 扁平封装 器件 老化 测试 插座
【权利要求书】:

1.一种132线0.635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座,其特征是:它是由插座体、接触件和定位装置三个部分统一组成,插座体由座(10)、盖(4)和钩(2)组成,各部分间以轴(1)(6)和扭簧(7)相连接,接触件(9)、(11)、(12)由轴向对称平均分布的132线、0.635mm细节距的镀金簧片纵向排列组成,分别安装于座(10)的4面凹槽中。

2.根据权利要求1所述的132线0.635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座,其特征是:插座的压紧装置由座(10)、盖(4)、钩(2)及压块(5)组成,压块(5)采用活动式,这种翻盖式结构把接触件设计成自动压紧锁、零插拔力结构。

3.根据权利要求1所述的132线0.635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座,其特征是:插座的定位装置由座体上的斜面进行定位。 

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