[发明专利]独立磁盘冗余阵列系统及其数据恢复方法

说明书

技术领域

本发明实施例涉及磁盘数据恢复技术，尤其涉及一种独立磁盘冗余阵列系统及其数据恢复方法。

背景技术

串行高级技术附件(Serial Advanced Technology Attachment；简称：SATA)硬盘容量大，价格便宜，但是可靠性差。据统计，SATA硬盘的误码率(Bit Error Rate；简称：BER)为10^14比特，约为12TB，即每读取12T数据会出现一次读取错误，如果读取错误发生在重构时，就会出现双盘失效。在成员盘数量多的情况下进行全盘的重构，出现这种双盘失效的概率很大。即使可修复错误在降级情况下，也是无法采用重构进行修复的，也存在大量的重构过程中出现的双盘失效事件。

独立磁盘冗余阵列(Redundant Array of Independent DISK；简称：RAID)可以由多个磁盘组成，例如由多个SATA硬盘组成。目前，RAID5依赖的校验信息属于同一个条带，只能在出现一个失效的分条单元时进行错误修复，在降级状态例如：一个条带中已出现一个分条单元失效的情况下，无法修复其他的可修复错误，即无法在同一个分条内出现双分条单元失效的情况下修复错误，从而恢复数据。RAID6为一种可以在两块磁盘同时故障的条件下继续执行RAID组中读写请求的RAID类型，使用了两种校验数据的计算技术，具体为采用P+Q双重校验，可以在降级状态下修复其他的可修复错误。其中，P校验的计算方法跟与RAID5一样；Q校验采用基于Galois域GF(28)的Reed-Solomon算法，具体地，P和Q符合以下公式：

P＝各数据盘XOR结果

Q＝各数据盘的(Gf)XOR结果

以下表1为现有RAID6的一种示例，其中，每一列表示一个磁盘的各个分条单元，每一行表示RAID系统的一个条带，D1～D3为各个磁盘的数据分条单元，P1～P4为每个条带的条带分条校验单元(与RAID5中的条带分条校验单元类似)，Q1～Q4为每个条带的带中间系数的条带分条校验单元：

表1

  D1  D2  D3  P1  Q1  D1  D2  D3  P2  Q2  D1  D2  D3  P3  Q3  D1  D2  D3  P4  Q4

以表1为例，每个条带中P、Q与D的关系符合以下方程组(1)：