[发明专利]一种用60Coγ射线开展位移损伤试验的装置

权利要求书

1.一种用⁶⁰Coγ射线开展位移损伤试验的装置，其特征在于：所述装置为铝屏蔽层，所述铝屏蔽层放置在⁶⁰Coγ射线辐照源与辐照样品之间，⁶⁰Coγ射线辐照源发射出的⁶⁰Coγ射线经过屏蔽层后到达辐照样品，屏蔽层的厚度为15～120mm。

2.根据权利要求1所述的一种用⁶⁰Coγ射线开展位移损伤试验的装置，其特征在于：优选铝屏蔽层将辐照样品封闭包围，其中正对⁶⁰Coγ射线辐照源的铝屏蔽层一面的厚度为15～120mm。

3.根据权利要求1所述的一种用⁶⁰Coγ射线开展位移损伤试验的装置的试验方法，其特征在于：

首先对辐射场进行剂量标定，方法如下：将剂量计放入所述装置内，将装置放入到⁶⁰Coγ射线场中某一位置进行辐照，剂量计辐照到其剂量测试范围后取出剂量计测试，然后根据剂量除以辐照时间得到该位置剂量率，改变不同位置，得到辐射场中不同位置的剂量率；当对样品进行某一特定辐照剂量的特定剂量率的辐照实验时，根据剂量标定结果在辐射场中找到要测定的剂量率的位置，将样品放入所述装置，辐照一定时间，所述时间等于辐照剂量除以剂量率后取出样品，样品即完成了规定的辐照。