[发明专利]基于致动器的压敏导管校正系统有效
| 申请号: | 201010614857.4 | 申请日: | 2010-12-20 |
| 公开(公告)号: | CN102119871A | 公开(公告)日: | 2011-07-13 |
| 发明(设计)人: | A·戈瓦里;Y·埃弗拉思;A·C·阿尔特曼 | 申请(专利权)人: | 韦伯斯特生物官能(以色列)有限公司 |
| 主分类号: | A61B19/00 | 分类号: | A61B19/00;A61B5/06 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 俞华梁;卢江 |
| 地址: | 以色列*** | 国省代码: | 以色列;IL |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 致动器 导管 校正 系统 | ||
1.一种校正设备,包括:
固定装置,所述固定装置耦合以固定医用探针的远端;
致动器,所述致动器被配置为压在所述探针的所述远端顶端上,并向所述远端顶端施加具有各自大小和相对于所述远端的各自角度的多个力向量,从而使所述远端顶端相对于所述远端变形;
感测装置,所述感测装置被配置为测量所述致动器施加的所述力向量的大小;以及
校正处理器,所述校正处理器被配置为从所述探针接收指示所述远端顶端在所述力向量作用下的变形的第一测量值,从所述感测装置接收指示所述力向量大小的第二测量值,并根据所述角度、所述第一测量值和所述第二测量值计算用于评估由所述第一测量值决定的所述力向量的校正系数。
2.根据权利要求1所述的设备,还包括耦合到所述致动器并被配置为压在所述探针的所述远端顶端上的平表面。
3.根据权利要求1所述的设备,其中所述探针的所述远端包括产生磁场的磁场发生器,并且其中所述远端顶端包括磁场传感器,所述磁场传感器感测所述磁场并在感测到的磁场作用下产生所述第一测量值。
4.根据权利要求1所述的设备,还包括多个磁场发生器,所述多个磁场发生器位于所述探针的外部,并可操作产生各自的磁场,并且其中所述探针的所述远端和所述远端顶端包括感测所述磁场以产生所述第一测量值的各自的第一磁场传感器和第二磁场传感器。
5.根据权利要求1所述的设备,还包括夹具,所述夹具固定所述致动器并被所述校正处理器控制,以施加所述各自大小和角度的所述力向量。
6.根据权利要求1所述的设备,其中所述固定装置被配置为允许所述探针相对于所述探针的纵向轴线旋转,并且其中所述校正处理器被配置为通过处理从所述旋转的探针接收到的所述第一测量值来检测所述远端顶端的所述变形中的轴向不对称性。
7.根据权利要求1所述的设备,其中所述校正处理器被配置为将所述校正系数保存在耦合到所述探针的存储器内。
8.根据权利要求7所述的设备,其中所述存储器包括电可擦除可编程只读存储器。
9.一种校正方法,包括:
将具有远端顶端的医用探针的远端固定在固定装置内;
将致动器压在所述远端顶端上,从而向所述远端顶端施加具有各自大小和相对于所述探针的所述远端的各自角度的多个力向量,并使所述远端顶端相对于所述远端变形;
从所述探针接收指示所述远端顶端在所述力向量作用下的所述变形的第一测量值;
从耦合到所述致动器的感测装置接收指示所述力向量大小的第二测量值;以及
根据角度、所述第一测量值和所述第二测量值计算用于评估由所述第一测量值决定的所述力向量的校正系数。
10.根据权利要求9所述的方法,其中压所述致动器包括将耦合到所述致动器的平表面压在所述探针的所述远端顶端上。
11.根据权利要求9所述的方法,其中所述探针的所述远端包括产生磁场的磁场发生器,并且其中接收所述第一测量值包括从所述远端顶端内的磁场传感器接受所述第一测量值,所述磁场传感器感测所述磁场,并在感测到的磁场作用下产生所述第一测量值。
12.根据权利要求9所述的方法,其中接收所述第一测量值包括从第一磁场传感器和第二磁场传感器接受所述第一测量值,所述第一磁场传感器和所述第二磁场传感器分别装配在所述探针的所述远端和所述远端顶端内,感测所述探针的外部的多个磁场发生器产生的磁场,并且产生所述第一测量值。
13.根据权利要求9所述的方法,其中压所述致动器包括操作固定所述致动器的夹具,从而以各自的大小和角度施加所述力向量。
14.根据权利要求9所述的方法,还包括将所述探针在所述固定装置内相对于所述探针的纵向轴线旋转,以及通过处理从所述旋转的探针接收的所述第一测量值检测所述远端顶端的所述变形中的轴向不对称性。
15.根据权利要求9所述的方法,还包括将所述校正系数保存在耦合到所述探针的存储器内。
16.根据权利要求15所述的方法,其中所述存储器包括电可擦除可编程只读存储器。
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