[发明专利]用于通用计算的纹理单元有效
申请号: | 201010592194.0 | 申请日: | 2010-12-08 |
公开(公告)号: | CN102087740A | 公开(公告)日: | 2011-06-08 |
发明(设计)人: | V·W·李;M·斯梅尔延斯基;G·S·达西卡;J·冈萨雷斯;J·楚加尼;Y-K·陈;C·金;J·加戈;S·加兰;V·M·D·巴里奥 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | G06T1/20 | 分类号: | G06T1/20 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 曲卫涛;王洪斌 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 通用 计算 纹理 单元 | ||
1.一种方法,包括:
利用纹理单元中的可编程线性内插器计算点积。
2.如权利要求1所述的方法,包括利用有限状态机定序器处理任何大小的点积。
3.如权利要求2所述的方法,其中所述状态机将较大的点积计算分解为多于一个较小的计算。
4.如权利要求3所述的方法,包括:将点积计算的序列分解为多个子块;以及将每个子块变换为线性内插系数。
5.如权利要求2所述的方法,包括利用软件定序器有限状态机。
6.如权利要求2所述的方法,包括利用硬件定序器有限状态机。
7.如权利要求1所述的方法,包括:确定由所述纹理单元确定的点积系数为负数,以及将所述系数的符号变为正值。
8.如权利要求7所述的方法,包括通过在过滤操作期间反转对应通道值的符号来补偿所述点积系数的符号改变。
9.如权利要求7所述的方法,包括:通过将具有负系数的每个纹理元素的控制掩码传递给纹理控制来补偿所述符号改变;以及确定所述掩码中的一个值表示对应系数为正数,而所述掩码中的另一个值表示对应系数为负数。
10.如权利要求1所述的方法,包括将一般的N元点积映射到线性内插器树。
11.一种设备,包括:
处理实体;
耦合到所述处理实体的存储器;以及
耦合到所述处理实体、用于计算点积的可编程线性内插器。
12.如权利要求11所述的设备,包括用于处理任何大小的点积的有限状态机定序器。
13.如权利要求12所述的设备,其中所述定序器将点积分解为多个较小点积操作的组合。
14.如权利要求13所述的设备,其中所述定序器循环通过所述点积操作并累加最终结果。
15.如权利要求13所述的设备,其中所述定序器将奇数大小的点积拉长到下一个偶数大小的点积。
16.如权利要求15所述的设备,其中所述处理实体执行设置和累加操作,所述设置操作将系数分解为多个子块。
17.如权利要求14所述的设备,所述处理器通过利用从所述设置步骤变换的系数执行卷积来实现累加步骤。
18.如权利要求17所述的设备,其中所述定序器有限状态机包括过滤单元,所述有限状态机对每个子点积计算生成纹理请求并将它们馈送给纹理管线。
19.如权利要求15所述的设备,包括通过缩放因子执行最终结果的相乘的缩放单元。
20.如权利要求13所述的设备,其中所述有限状态机定序器对每个子点积计算生成内插器请求并将它们馈送给所述内插器。
21.如权利要求11所述的设备,所述纹理单元确定由所述纹理单元确定的所述点积系数为负数,并将所述系数的符号变为正值。
22.如权利要求11所述的设备,包括线性内插器树,一般的N元点积映射到所述线性内插器树。
23.一种存储指令的计算机可读介质,所述指令使得计算机能够:
确定由纹理单元确定的点积系数为负数;以及
将所述系数的符号变为正值。
24.如权利要求23所述的介质,还存储用于执行以下步骤的指令:通过在过滤操作期间反转对应通道值的符号来补偿所述点积系数的符号改变。
25.如权利要求23所述的介质,还存储用于执行以下步骤的指令:通过将具有负系数的每个纹理元素的控制掩码传递给纹理控制来补偿所述符号改变;以及确定具有一个值的掩码表示对应系数为正数,而具有另一个值的所述掩码表示对应系数为负数。
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