[发明专利]一种L10-FePt颗粒薄膜的制备方法有效
| 申请号: | 201010585896.6 | 申请日: | 2010-12-14 |
| 公开(公告)号: | CN102061451A | 公开(公告)日: | 2011-05-18 |
| 发明(设计)人: | 李海波;刘梅;张玉梅;孟祥东;陈芳慧 | 申请(专利权)人: | 吉林师范大学 |
| 主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/58;C23C14/16 |
| 代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 陶尊新 |
| 地址: | 136000 吉林*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 l1 sub fept 颗粒 薄膜 制备 方法 | ||
1.一种L10-FePt颗粒薄膜的制备方法,其特征是,该方法由以下步骤实现:
步骤一、在室温下,采用直流磁控溅射法在基片上制备FeAg纳米薄膜;
步骤二、将步骤一制备的FeAg纳米薄膜置于磁场中进行真空退火;获得退火后的FeAg纳米薄膜;
步骤三、将步骤二获得退火后的FeAg纳米薄膜在室温下采用直流磁控溅射沉积Pt层后进行无磁场真空退火,获得L10-FePt/Ag薄膜。
2.根据权利要求1所述的一种L10-FePt颗粒薄膜的制备方法,其特征在于,步骤二所述的磁场真空退火的温度300~400℃,退火时间为0.5~1小时。
3.根据权利要求1或2所述的一种L10-FePt颗粒薄膜的制备方法,其特征在于,步骤二所述的将FeAg纳米薄膜置于磁场中进行真空退火,所述磁场为0~10kOe磁场。
4.根据权利要求1所述的一种L10-FePt颗粒薄膜的制备方法,其特征在于,步骤三所述的获得L10-FePt/Ag薄膜的具体过程为:采用直流磁控溅射沉积Pt层,获得Pt/FeAg薄膜;将所述Pt/FeAg薄膜进行无磁场真空退火,最终获得L10-FePt/Ag薄膜。
5.根据权利要求1或4所述的一种L10-FePt颗粒薄膜的制备方法,其特征在于,步骤三所述的采用直流磁控溅射沉积Pt层后进行无磁场真空退火的温度为300~600℃,退火时间为0.5~1小时。
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