[发明专利]电压测试装置及系统无效
| 申请号: | 201010523100.4 | 申请日: | 2010-10-28 |
| 公开(公告)号: | CN102455415A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 |
| 发明(设计)人: | 李圣义 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/40 | 分类号: | G01R31/40;G01R19/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电压 测试 装置 系统 | ||
技术领域
本发明涉及一种电压测试装置及系统,尤其涉及一种用于对待测电源的电压范围进行测试的电压测试装置及系统。
背景技术
电源装置的供电电压范围是衡量其性能好坏的重要指标。一般电源装置制造完成后,都需要对其供电电压范围进行测试。
对电源装置的测试一般采用专用的电源测试仪器。然而,现有的电源测试仪器大多数价格昂贵,使得测试成本较高,且不同型号的电源测试仪器之间通用性也较差。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种成本较低,通用性较好的电压测试装置。
另,有必要提供一种具有该电压测试装置的系统。
一种电压测试装置,用于测试待测电源的电压范围是否符合预设标准;所述电压测试装置包括测试模块,该测试模块包括第一测试电路、第二测试电路及场效应管,该第一测试电路包括第一比较芯片,该第一比较芯片的正向输入端连接至待测电源,并获得一参考电压,该第一比较芯片的负向输入端获得该待测电源预设电压的上限值,该第二测试电路包括第二比较芯片,该第二比较芯片的负向输入端连接至待测电源,并获得另一参考电压,该第二比较芯片的正向输入端获得该待测电源预设电压的下限值,该第一比较芯片及第二比较芯片的输出端均连接至场效应管的栅极,该场效应管的源极接地,该场效应管的漏极输出第一比较芯片及第二比较芯片的测试结果。
一种电压测试系统,用于测试待测电源的电压范围是否符合预设标准,所述电压测试系统包括该电压测试装置及计算机。
上述电压测试系统通过分别调节该第一可调电阻及第二可调电阻的阻值,使得第一比较芯片负向输入端的电压及第二比较芯片正向输入端的电压分别为待测电源预设电压的上限值及下限值。如此,使用者后续仅需观察该发光二极管的发光与否,便可得知该待测电源的电压范围是否符合预设标准。其测试成本较低且通用性较高,使用方便。
附图说明
下面参照附图结合具体实施方式对本发明作进一步的描述。
图1为本发明较佳实施方式的电压测试系统与待测电源的功能框图。
图2为图1所示电压测试系统中控制模块的电路图。
图3为图1所示电压测试系统中开关模块的电路图。
图4为图1所示电压测试系统中负载模块的电路图。
图5为图1所示电压测试系统中测试模块的电路图。
主要元件符号说明
电压测试系统 100
待测电源 200
电压测试装置 10
计算机 20
网络接口 11
控制模块 12
开关模块 13
负载模块 14
测试模块 15
控制芯片 121
信号传输引脚 USB_D+、USB_D-
开关控制引脚 P1.0
控制信号引脚 P1.1-P1.4
接收信号引脚 TEST
状态引脚 STATUS
电源 VCC
电阻 R1-R4、R6-R8
第一可调电阻 R5
第二可调电阻 R9
发光二极管 D1、D4
二极管 D2-D3
稳压管 D5、D6
场效应管 Q0-Q2
继电器 K0、K2
第一线圈端 L0、L2
第二线圈端 L1、L3
常开点 NO0、NO1
共通点 COM0、COM1
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