[发明专利]测距系统及测距方法有效

专利信息
申请号: 201010287200.1 申请日: 2010-09-16
公开(公告)号: CN102401901A 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 许恩峰;陈信嘉 申请(专利权)人: 原相科技股份有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/481
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 南毅宁;王凤桐
地址: 中国台湾新竹科学*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 测距 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种测距系统,用于侦测预设深度范围内的待测物,该测距系统包括:

光源,用于以一投射角度投射一光区域至该待测物;

图像传感器,用于感测该待测物上的该光区域的反射光;以及

控制处理单元,用于控制该光源以该投射角度投射该光区域,并根据该投射角度以及预设系统参数来确定该图像传感器的可设定取样范围。

2.根据权利要求1所述的测距系统,其中,该测距系统还包括导光组件,用于引导所述待测物上的所述光区域的反射光至所述图像传感器。

3.根据权利要求2所述的测距系统,其中所述预设系统参数包含所述光源、所述图像传感器和所述导光组件的空间关系以及所述预设深度范围。

4.根据权利要求1所述的测距系统,其中所述图像传感器还包括线感测阵列或感测矩阵。

5.根据权利要求1所述的测距方法,其中所述光区域为一线段。

6.一种测距系统,用于产生待测面的立体图像,该测距系统包括:

光源,用于投射一光区域至该待测面;

多个感光单元,用于感测该待测面的反射光;以及

控制处理单元,用于控制该光源以该光区域扫描该待测面,并根据该光区域的不同投射位置以及预设系统参数来控制所述感光单元的不同部分输出所感测的图像数据。

7.根据权利要求6所述的测距系统,其中该测距系统还包括导光组件,用于引导所述待测物上的所述光区域的反射光至所述图像传感器。

8.根据权利要求7所述的测距系统,其中所述预设系统参数包含所述光源、所述图像传感器和所述导光组件的空间关系以及预设深度范围。

9.根据权利要求6所述的测距系统,其中所述光源为线辐射光源或点辐射光源;所述导光组件为透镜。

10.根据权利要求6所述的测距系统,其中所述感光单元形成CMOS芯片的图像感测阵列。

11.根据权利要求6所述的测距系统,其中所述控制处理单元还根据所述感光单元的不同部分输出的图像数据来产生所述待测面的所述立体图像。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于原相科技股份有限公司,未经原相科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010287200.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top